판매용 중고 SEMICS Opus II #293811437

SEMICS Opus II는 다양한 유형의 반도체 부품의 제조 및 테스트를 위해 설계된 차세대 프로버입니다. 정밀하고, 높은 출력 정확도와 처리량 사양을 제공하며, 운영 환경과 엔지니어링 환경 모두에 적합합니다. 이 검사는 4 가지 주요 모듈, 즉 prober body, chuck (s), control box 및 video inspection system으로 구성됩니다. 프로 버 바디에는 네거티브 압력 척 (negative pressure chuck), 분리 가능한 가드 레일, 조절 가능한 하중 지원 및 케이블 관리가 포함되어 있어 유지 보수가 쉽습니다. 척은 장치와 프로브 사이에 강력한 기계적 연결을 제공합니다. 최대 접촉 (Contact Contact) 및 보안 연결을 위한 양의 압력을 제공하며, 추가 접촉력이 필요하지 않습니다. 제어 상자는 프로버 제어를위한 마이크로 컨트롤러, 전원 공급 장치 및 통신 시스템으로 구성됩니다. 마지막으로, 고해상도 5 메가 픽셀 컬러 카메라를 통해 자동 광학 품질 (AOQ) 을 검사하여 품질 관리 및 효율적인 작동을 보장합니다. 또한 Opus II는 최적의 접촉에 대한 Z축 보상, 정확한 조사력, 자동 고정장치 인식 및 선택, 결합 된 Z축 자동 조정, 자동 다이 정렬 등 다양한 자동화 기능을 제공합니다. 이렇게 하면 다이 두께나 형상에 관계없이 작업이 일관됩니다. 또한 캔틸레버 프로브, 스프링 팁 프로브, 자화 된 프로브 등 다양한 프로브 및 기술을 지원합니다. SEMICS Opus II는 또한 디바이스 특성, 패라메트릭 테스트, 장애 분석을 위한 다양한 소프트웨어 솔루션을 지원하기 때문에 비용 효율적인 IC 테스트 및 특성을 제공할 수 있습니다. 이를 통해 일관된 프로세스의 품질과 반복 가능성을 보장할 수 있습니다. 광범위한 기능과 강력한 기능을 갖춘 Opus II는 효율적이고 정확한 IC 테스트에 이상적인 선택입니다.