판매용 중고 SEMICS Opus II #293606570

SEMICS Opus II는 다양한 반도체 장치의 전기 매개 변수를 테스트하기위한 완전한 기능 생산 전문가입니다. Prober의 기능에는 정확한 모션 제어 기능, 지능형 테스트 장비, 자동 Probing 및 모드 선택, 웨이퍼 매핑 기능이 포함됩니다. 강력한 모듈식 설계를 통해, Opus II Prober는 광범위한 장치 패라메트릭 테스트 응용 프로그램을 위해 쉽게 구성되고 재구성될 수 있습니다. SEMICS Opus II는 정밀 동작 제어를 특징으로하며 최대 0.5 m의 정확도를 갖습니다. 이를 통해 다중 사이트 테스트 구조를 정확하게 포지셔닝 및 조사할 수 있습니다. 또한 고급 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 기능을 통해 장치 위치를 정확하게 찾고 고속 프로브를 수행할 수 있습니다. 이 검사는 고성능 테스트 프로토콜과 결합하여 시간당 최대 25 개의 웨이퍼 (wafer) 의 높은 생산성을 구현합니다. 사용자 친화적이고 직관적인 Prober 인터페이스를 통해 간편한 프로그래밍, 실행, 테스트 구성 등의 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 T&B 및 NAKED TTL을 포함한 다양한 테스트 프로토콜을 지원합니다. 내장형 자동화 시스템은 테스트 설정 (Test Setup) 및 실행 절차를 더욱 단순화하고 유연성을 높여줍니다. 이 장치는 프로브 (Probe) 유형을 자동으로 검색하고 특정 테스트 응용 프로그램에 따라 올바른 프로브 (Probing) 모드 또는 작업 프로토콜을 선택할 수 있습니다. 또한 Opus II Prober는 강력한 데이터 검증, 분석 및 스토리지 기능을 갖추고 있습니다. 시스템은 테스트 후 생성된 데이터를 저장하며, 검증 및 분석은 나중에 조정 가능한 UI (Adjustable UI) 를 사용하여 수행할 수 있습니다. 테스트, 결과, 프로그램 파일은 모두 Prober의 메모리에서 백업할 수 있으며, 이를 통해 데이터를 쉽게 전송하고 다른 시스템과 공유할 수 있습니다. SEMICS Opus II prober는 오늘날의 반도체 장치 제조업체의 요구를 충족시키기 위해 설계된, 신뢰할 수 있고, 모든 기능을 갖춘 테스트 기기입니다. 탁월한 성능과 다양한 운영 툴을 갖춘 이 Prober는 고정밀도 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 에 적합하며, 고객의 디바이스 품질 보증 (Quality Assurance) 프로세스에 안정적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다.