판매용 중고 SEIWA ETA-1200 #9107328

SEIWA ETA-1200 Prober는 정확하고 효율적인 재료 처리를 위해 설계된 고급형 웨이퍼 프로버입니다. 반도체 장치, 바이오칩, 평면 패널 디스플레이, MEMS 구성 요소 테스트뿐만 아니라 다양한 프로브 및 번인 (burn-in) 애플리케이션에 적합합니다. ETA-1200 은 고정밀 웨이퍼 척 (wafer chuck) 및 취급 장비를 갖추고 있으며, 웨이퍼에서 하이브리드에 이르기까지 다양한 재료를 적재 할 수 있습니다. 이 시스템은 직경이 최대 12 "인 웨이퍼를 처리 할 수 있으며, 표준이 아닌 모양의 웨이퍼를 수용하여 다양한 재료의 처리를 용이하게합니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 응용 프로그램을위한 다양한 유형의 프로브 카드를 단일 카세트에 장착 할 수있는 올인원 (All-in-one) 디자인을 갖추고 있습니다. SEIWA ETA-1200 Prober에는 낮은 진동 진동 분리 장치 (low-vbration vbration isolation unit) 가 장착되어 있어 취급 장애를 최소화하여 정확한 조사 결과를 제공합니다. 자동 "웨이퍼 '정렬 장치 는" 웨이퍼' 를 정확 하게 정렬 하여 수동 정렬 에 필요 한 시간 을 최소화 한다. 또한 ETA-1200 (Contact Force Control Tool) 은 자동으로 Probe 카드 압력을 조정하여 Probe와 웨이퍼 서피스 사이의 최적의 접촉을 보장합니다. SEIWA ETA-1200 Prober는 또한 다양한 RF/마이크로파 매개 변수를 읽을 수있는 고정밀 자동 판독 스테이션을 갖추고 있습니다. 프로버 (Prober) 는 최대 6 GHz 주파수에서 테스트 할 수있는 고대역폭 신호 처리 자산을 갖추고 있습니다. 또한, 신속한 분석을 위해 데이터를 자동으로 캡처하고 저장할 수 있는 고해상도 (High-Resolution) 데이터 획득 모델이 함께 제공됩니다. ETA-1200 프로버 (ETA-1200 Prober) 는 재료 처리를위한 다용도 도구이며, 고급 기능은 다양한 재료를 정확하고 효율적으로 처리하도록 설계되었습니다. 견고한 설계로 다양한 유형의 재료를 처리 할 수 있으며, 자동화된 시스템은 빠르고 쉬운 프로브 (probe) 와 다양한 반도체 및 MEMS 컴포넌트 테스트 (testing) 를 제공합니다. SEIWA ETA-1200 Prober는 정확하고 효율적인 재료 처리가 필요한 모든 어플리케이션에 적합한 선택입니다.