판매용 중고 RUCKER & KOLLS / R&K 667 #65588

RUCKER & KOLLS/R & K 667은 결합 및 비본딩 웨이퍼 테스트 응용 프로그램의 고속 프로버를 위해 설계되었습니다. Probe 카드 장비는 모든 유형의 Probing 바늘을 수용하며, 유연한 제어, 교정, 진단 기능을 제공합니다. 최첨단 웨이퍼 프로브 시스템 (Advanced Wafer Probing System) 으로 설계되어 최소 힘으로 가장 높은 프로브 정확도를 얻습니다. 이 장치는 최대 8 개의 사이트를 동시에 지원하며, 빠르고 정확한 테스트를 위해 광/전기 오류 검사를 제공합니다. 이 프로버 (Prober) 는 가볍고 인체 공학적으로 설계된 알루미늄 프레임을 특징으로하며, 테스트 포인트에 쉽게 접근할 수 있도록 설계되었습니다. 고급 프로빙 머신 (Advanced Probing Machine) 에는 테스트 사이트의 빠르고 정확한 시각적 정렬 및 Probe 접점 식별이 가능한 2 개의 통합 광학 센서가 통합되어 있습니다. 또한, 특허를받은 프로브 기술 (Probing Technique) 은 프로브 이동과 접촉력을 최소화하여 고주파 응용 프로그램에서도 프로브를 안정화시킵니다. 또한 조정 가능한 척 압력 (chuck pressure) 과 편향된 정렬 링 (alignment ring) 을 포함하여 과도한 힘이나 프로브 또는 테스트 사이트 손상 없이도 안정적이고 반복 가능한 프로브를 제공합니다. Prober는 또한 효율적이고 안정적인 Wafer ID 및 바코드 인식, 표준 파일 형식 및 보안 온라인 웨이퍼 ID 일치 기능을 제공하는 ATA (Automatic Test Adaptor) 를 제공합니다. 내장형 Probing/Data Logging 툴과 ATA 를 함께 사용하면 보다 효율적이고 정확한 테스트를 수행할 수 있습니다. 또한, 자산은 데이터를 자세히 분석하기 위해 다양한 맞춤형 소프트웨어와 인터페이스 할 수 있습니다. R&K 667 Prober는 모든 유형의 채권 테스트에 대해 안정적이고 빠른 자동 테스트 데이터를 제공하도록 설계되었습니다. 전자제품, 자동차, 항공우주산업 (Aerospace Industries) 의 응용프로그램을 테스트하기 위해서는 첨단 기능과 기능이 필수품으로 자리잡았다. 이 장비는 다양한 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 옵션을 제공하며, 기존 시스템에 적합한 유연성을 갖추고 있어 효율이 높고 정확한 전체 테스트 프로세스를 제공합니다.