판매용 중고 RUCKER & KOLLS / R&K 660J #293757268

R&K (RUCKER&KOLLS) RUCKER & KOLLS/R & K 660J는 반도체 제조에서 전자 테스트 및 측정 응용 프로그램을 위해 설계된 정교하고 다목적 전문가입니다. 이 정밀 기기는 다양한 기판에서 마이크로일렉트로닉 장치 (microelectronic device) 를 정확하게 포지셔닝 및 조사할 수 있는 다양한 기능과 기능을 제공합니다. R&K 660J Prober에는 테스트 대상 장치 (DUT) 의 테스트 지점과 관련하여 프로브를 정확하게 포지셔닝 및 정렬할 수있는 고정밀 조작기 (High-Precision Manipulator) 시스템이 장착되어 있습니다. 조작 시스템 (Manipulator System) 은 최적의 성능 및 반복성을 보장하기 위해 고급 소프트웨어 알고리즘에 의해 제어되는 여러 개의 동작 축으로 구성됩니다. 이 정밀도 수준은 반도체 테스트에서 안정적이고 정확한 테스트 결과를 달성하는 데 중요합니다. 프로버는 특정 테스트 요구 사항에 따라 현미경, 바늘, 접촉 핀 (contact pin) 과 같은 다양한 유형의 프로브를 수용하도록 설계되었습니다. 이러한 유연성을 통해 사용자는 DC, RF, 고속 디지털 테스트 등 다양한 측정/테스트를 수행할 수 있습니다. 이 Prober의 모듈식 설계를 통해 열 제어 시스템 (Thermal Control System) 이나 광학 측정 기능 (Optical Measurement Capability) 과 같은 추가 기능을 손쉽게 사용자 정의하고 통합할 수 있습니다. RUCKER&KOLLS 660J Prober에는 운영자가 테스트 시퀀스를 쉽게 프로그래밍하고, 테스트 매개변수를 설정하고, 테스트 결과를 실시간으로 모니터링할 수 있는 사용자 친화적 인 인터페이스가 있습니다. 소프트웨어 인터페이스 (Software interface) 는 테스트 포인트, Probe 위치, 측정 데이터를 상세하게 시각화하여 효율적인 테스트 설정 및 실행을 지원합니다. 660J 프로버 (Prober) 의 주요 장점 중 하나는 높은 처리량 (Throughput) 기능으로, 사용자는 짧은 시간 안에 많은 수의 테스트를 수행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 다중 프로브 (Probe) 와 테스트 헤드 (Test Head) 로 구성하여 다중 장치의 병렬 테스트를 가능하게 하여 반도체 테스트 작업의 전반적인 생산성과 효율성을 높일 수 있습니다. 또한 RUCKER & KOLLS/R & K 660J 프로버에는 DUT에 정확한 프로브 배치를 보장하는 고급 자동 정렬 기능이 있습니다. 이 시스템은 정교한 알고리즘과 피드백 (feedback) 메커니즘을 사용하여 테스트 중 정렬 (misalignment) 이나 드리프트 (drift) 를 보상하여 정확하고 일관된 측정을 생성합니다. 더욱이, 이 검사는 테스트중인 장치와 테스트 장비를 모두 보호하기 위해 고급 안전 (advanced safety) 기능을 통합했습니다. 이러한 안전 메커니즘에는 과전류 보호, 온도 모니터링, 테스트 중 우발적 사고를 방지하기위한 자동 종료 프로토콜 (automatic shutdown protocol) 이 포함됩니다. 전반적으로 R&K 660J Prober는 단일 플랫폼에서 정밀도, 속도, 유연성, 신뢰성을 결합한 반도체 테스트 어플리케이션을 위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다. 반도체 제조업체들이 테스트 프로세스를 간소화하고 전반적인 제품 품질을 개선하고자 하는 '고급 (advanced)' 기능과 기능을 통해 이상적인 선택입니다.