판매용 중고 QMC DSR-600 #9134180

QMC DSR-600은 웨이퍼 레벨 테스트, Probing and Probing Assembly 및 기타 관련 응용 프로그램을 위해 설계된 강력하고 고속 프로버입니다. 또한 여러 공간 구속이 있는 어셈블리 프로브 (Probe Assembly) 또는 특수 요구사항에 사용할 수 있습니다. DSR-600은 올인원 (All-in-One) 설계를 통해 액세서리를 추가할 필요 없이 빠르고 효율적인 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 및 다양한 테스트 및 Probing 솔루션을 제공합니다. QMC DSR-600은 최대 150 MHz의 프로빙 속도를 제공하며, 단일 피치 구성과 다중 피치 구성을 모두 수용할 수 있습니다. DSR-600에는 다양한 온보드 테스트 기능도 있습니다. 여기에는 Contact Resistance 및 Impedance Testing과 같은 활성 테스트와 Resistance 및 Capacitance Measurement와 같은 수동 테스트가 모두 포함됩니다. Prober에는 또한 오버 샷, 반바지 및 열림을 감지 할 수있는 ARS (Automatic Recognition System) 가 있습니다. QMC DSR-600에는 DPS (Dual Plane Docking Station) 가 포함되어 있으며, 다양한 테스트 요구 사항에 맞게 다양한 교환 가능한 테스트 구성이 가능합니다. 예를 들어, DPS는 복잡한 패키지와 칩셋을 테스트하는 데 사용할 수 있습니다. 또한, DPS 는 다중 피치 Probing 구성을 사용자 정의하고 필요한 Probe 수를 줄일 수 있는 기능을 제공합니다. 또한 시스템에 ACPS (Auto-Centering Probing System) 가 장착되어 있어 수동 정렬 없이 웨이퍼 프로브를 수행할 수 있습니다. 이를 통해 Probe 처리량과 정확도를 가속화하여 높은 수율 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 ACPS 는 블라인드 프로브 (blind probing) 와 풀사이트 프로브 (full sight probing) 를 가능하게 하며, 이를 통해 사용자는 테스트 설정을 최적화할 수 있습니다. 또한 DSR-600 은 강력한 기능 외에도, 사용자가 제어 및 데이터 튜닝 소프트웨어에 액세스할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 사용자에게 친숙한 프로그래밍 및 프로세스 최적화를 통해 효율적인 프로브를 보장합니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 직관적 인 사용자 인터페이스로 뒷받침되며 예측 알고리즘과 데이터 분석 도구의 라이브러리와 함께 제공됩니다. 광범위한 지원 및 유지 보수 서비스 (Maintenance Service) 와 더불어 이러한 모든 기능을 통해 복잡한 Probing 시나리오에 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다.