판매용 중고 QMC DPS 600 #9379316
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QMC DPS 600 prober는 반도체 집적 회로의 테스트 및 디버깅을 위해 설계된 전문 웨이퍼 프로브 장치입니다. Macor 코팅 스테이지가 특징이며 부드럽고 정확한 스캐닝 및 정렬이 가능합니다. Prober는 또한 조정 가능한 바늘 위치를 제공하여 테스트 매개변수를 정확하게 제어 할 수 있습니다. DPS 600은 트랜지스터 특성, 지연 시간, 작동 전압, 누출 전류, 기타 임계 값 등 다양한 매개변수를 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 빠른 스캐닝 속도를 제공하며, 가장 복잡한 컴포넌트까지 스텝핑합니다. 즉, 빠르고 유연한 검색 (scan) 설정을 제공하여 사용자가 수행 중인 특정 테스트에 대해 쉽게 매개변수를 조정할 수 있습니다. Prober의 디자인은 기본 유닛, 바늘 포지셔너, 바늘 테스트 헤드 및 스캔 제어 소프트웨어로 구성됩니다. 주요 유닛에는 Macor 코팅 스테이지가 있으며, 바늘의 부드럽고 정확한 움직임과 위치가 가능합니다. 바늘 포지셔너 (needle positioner) 는 조정 가능한 z축 동작을 제공하여 원하는 테스트 매개변수에 따라 바늘을 정확하게 배치할 수 있습니다. 바늘 테스트 헤드는 측정 제어를 제공하며 정확한 바늘 이동을 허용합니다. 마지막으로, 스캔 컨트롤러 (scan controller) 소프트웨어는 바늘의 위치를 구성하고, 테스트 진행률을 모니터링하며, 테스트의 다양한 매개변수를 제어하는 데 사용됩니다. QMC DPS 600은 고급 기능과 정확성을 제공합니다. 0.5 마일에서 17 마일 사이의 소형 칩 요소를 테스트 할 수 있으며, 거의 모든 주변 및 공정 조건에 강합니다. 컴퓨터나 독립형 (독립형) 으로 사용할 수 있는 고급 소프트웨어 (advanced software) 로 설계되었으며 Prober의 성능을 제어할 수 있는 사용자 친화적인 인터페이스를 제공합니다. 전반적으로 DPS 600 Prober는 뛰어난 성능과 정밀도를 제공합니다. Macor 코팅 스테이지, 조정 가능한 바늘 포지셔닝, 빠른 스캔 설정, 고급 소프트웨어 등으로 인해 집적 회로를 테스트하는 데 적합합니다. 첨단 기술 (Advanced Technology) 을 사용하여 다양한 테스트 및 응용 프로그램에 대한 정확한 판독 값을 보장합니다.
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