판매용 중고 PROBING SOLUTIONS 400 #9004364

PROBING SOLUTIONS 400은 웨이퍼 프로빙 및 칩 테스트를 위해 반도체 및 마이크로 일렉트로닉 산업에 사용되는 프로버입니다. 회로와 구성 요소에 대한 높은 정확성, 자동화된 정적 및 동적 테스트를 가능하게 합니다. 프로버 (Prober) 는 매우 정확하고 반복 가능하며 테스트 데이터의 고속, 고해상도 캡처가 가능한 다중 요소 센서 플랫폼 (Multi-Element Sensor Platform) 을 조사하기 위해 매우 정밀하고 고급 테스트 픽스처 제품군을 사용합니다. 광범위한 웨이퍼 (wafer) 와 기판 (substrate) 을 지원하며 여러 디바이스 특성에 대해 여러 가지 테스트 모드를 제공합니다. 이 검사는 사용 편의성과 유연성을 고려하여 설계되었습니다. 모든 운영 모드 및 매개변수에 쉽게 액세스할 수 있는 대형 액정 터치스크린 패널을 갖추고 있습니다 (영문). 또한 Prober에는 여러 GUI (Graphical User Interface) 도구가 포함되어 있어 테스트 패턴을 신속하게 만들고 수정하고, 바이어스 설정을 적용하고, 테스트 작업을 자동화할 수 있습니다. 또한 고속 통신 인터페이스 (High-Speed Communication Interface) 를 통해 Prober를 외부 컴퓨터 및 제어 시스템과 쉽게 통합 할 수 있습니다. 400 프로버 (Prober) 에는 와퍼 및 기판을 정확하고 반복적으로 정렬 할 수있는 기계식 암이 포함되어 있습니다. 스핀들 드라이브 시스템 (spindle drive system) 은 각 축에서 최대 정확도가 25 µm 인 높은 정확도 응용 프로그램과 리피팅 가능성 9 äm를 위해 특별히 설계되었습니다. 이 프로버는 또한 매우 민감한 커패시턴스 센싱 (capacitance-sensing) 기술을 통해 정확하고 반복 가능한 측정과 광범위한 테스트 전류를 가능하게합니다. 결과적으로 최소 샘플 조작, 최소 Probe 힘 및 최대 속도로 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 이 Prober에는 수동 및 자동 테스트를위한 다양한 소프트웨어 도구가 포함되어 있습니다. 사용자는 테스트를 위해 사용자 정의 스크립트와 소프트웨어를 개발할 수 있는 일련의 API (Application Programming Interface) 를 제공합니다. 또한 다양한 테스트 헤드, 레이저, 현미경, 입자 카운터, 기타 장치를 포함하여 테스트 효율성을 향상시키는 타사 소프트웨어/하드웨어 툴에 대한 액세스를 제공합니다. 또한, 고급 도량형 도구를 사용하여 시트 저항, 두께, 오염 등과 같은 정확한 측정을 수행 할 수 있습니다. 결론적으로, PROBING SOLUTIONS 400 prober는 가장 까다로운 마이크로 일렉트로닉 및 반도체 테스트 응용 프로그램에 적합한 고급 테스트 솔루션입니다. 정교한 기계식 암 (mechanical arm), 커패시턴스 감지 기술 (capacitance-sensing technology) 및 소프트웨어 도구 (software tools) 는 다양한 웨이퍼와 기판에 대한 매우 정확하고 반복 가능한 테스트를 제공합니다. 여러 가지 테스트 모드 (testing mode), 유연한 인터페이스 (flexible interface) 및 강력한 소프트웨어 (powerful software) 를 통해 자동화된 회로 및 컴포넌트 테스트를 위한 이상적인 선택이 가능합니다.