판매용 중고 PROBILT PB2000 #9123004

PROBILT PB2000은 고성능 반도체 장치 테스트를 위해 설계된 고급 업계 최고의 프로버 (일명 prober station) 입니다. FPGA (Embedded Field Programmable Gate Array), 3 차원, 비 접촉 매핑 플로우 셀 헤드 및 멀티 스테이지 와이퍼와 같은 여러 고급 기술을 통합 한 5 축, 300mm 또는 400mm 멀티 사이트 프로버 플랫폼입니다. 프로버 스테이션 (Prober Station) 은 높은 샘플링 속도로 아날로그 기능을 갖추고 있으며, 정확도가 높은 미세 피치 측정 (Fine Pitch Measurement) 과 같은 기능을 수행합니다. 이 프로버에는 FSA (Fast Shear Alignment) 및 HTFL (High Temperating Laser Stage) 과 같은 여러 기술도 포함되어 있습니다. 범용 설계 시스템은 측면에 3 개의 사이트를 개별적으로 제어하여 6 개의 사이트를 동시에 조사하여 총 12 개의 사이트를 만들 수 있습니다. 따라서 디바이스 테스트의 수요 증가와 높은 신뢰성을 충족할 수 있는 처리 성능이 향상됩니다 (영문). PB2000의 빠른 전단 정렬 (FSA) 기술은 반도체 성능 테스트 중에 프로브 위치를 정확하게 제어합니다. 초기 설정에서 이미 매우 높은 수율을 달성 할 수 있습니다. 이를 통해 다른 기존 기술에 비해 직접 수율 개선이 가능합니다. FSA는 또한 장치를 통해 매우 작은 피쳐를 측정하고, 반복되는 컴포넌트 측정 후에도 정확한 판독 (reading) 을 유지할 수 있습니다. 또한, PROBILT PB2000은 다단 와이퍼가있는 비 접촉 매핑 플로우 셀 헤드를 특징으로합니다. 매핑 및 와이퍼는 테스트 중 성능에 따라 조정 할 수 있습니다. 멀티 스테이지 와이퍼 시스템은 전반적인 신뢰성을 높이고 최대 25% 를 생산합니다. PB2000에는 고급 임베디드 FPGA (Advanced Embedded FPGA) 스테이션이 포함되어 있으며, 여러 테스트 및 매개변수 세트를 실행하도록 프로그래밍할 수 있습니다. FPGA는 처리량 및 시스템 방향 정확도를 높이고, 프로세스 내 정확한 피드백을 제공합니다. 이를 통해 운영자는 문제를 신속하게 해결하고 디버깅할 수 있습니다. 마지막으로, 프로버는 다른 시스템과 비교할 때 인상적인 테스트 시간을 달성 할 수 있습니다. 시간당 최대 300 개의 구성 요소를 처리 및 테스트하여 테스트 주기 시간을 대폭 줄일 수 있습니다. 결론적으로, PROBILT PB2000 (PROBILT PB2000) 은 오늘날의 시장에서 필요한 시간 중 일부에 안정적이고 정확한 측정을 제공 할 수있는 고급 프로버 스테이션입니다. 기존 Prober 솔루션과 비교할 때 탁월한 성능을 제공하여, 더 높은 수율과 더 빠른 테스트 주기 (Test Cycle) 를 실현할 수 있습니다.