판매용 중고 PIONEER LCP 1100 #9206956
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ID: 9206956
빈티지: 2013
Chip prober
LED Wafer level tester
Process / Gases: Air (0.5 MPa / 50 L/min)
Computer
Operating system: Windows XP
Manual
Sample size: 50 - 100 mm / 150 mm
Power supply: 200 V, 20 A, 3-Phase
2013 vintage.
PIONEER LCP 1100은 다양한 구성 요소 및 반도체 웨이퍼를 테스트하는 데 사용되는 전문가입니다. LCP 1100 은 집적 회로 (IC), 수동 구성 요소, 반도체 웨이퍼, 기타 장치 등 다양한 구성 요소를 조사할 수 있습니다. 다중 축 기능을 갖춘 완전 자동화, 고해상도 프로버 (Prober) 로, 대규모 컴포넌트 표면에서 빠르게 Probe를 수행할 수 있습니다. 이 프로버는 최대 2 미크론까지 접촉 및 비 접촉 프로브를 모두 지원할 수 있으며, 정확하고 일관된 결과를 제공합니다. 이 프로버는 또한 정전, 전압 및 전류, 저항, 전력 손실, 수율 분석 등 다양한 물리적 매개변수를 테스트하는 데 사용될 수 있습니다. 다중 축 설계는 최적의 위치 지정, 프로브 위치 조정 베이스, 수직 작업 서피스, 선형 드라이브 (Linear Drive) 를 위한 조정 가능한 Z축을 특징으로하며, 이를 통해 컴포넌트를 정확하게 조사할 수 있습니다. 파이오니어 LCP 1100 (Pioneer LCP 1100) 에는 부동 테이블 기능이 장착되어 있으므로 다양한 위치와 방향에서 빠르고 일관된 프로브 배치가 가능합니다. 고속 공압 프로브 (Pneumatic Probe) 조립과 정밀 레이저 정확도 (옵션) 는 검사의 다양성을 더욱 향상시킵니다. 또한 LCP 1100 은 다양한 소프트웨어 프로그램과 애플리케이션별 기능을 제공하여 빠르고 쉽게 테스트할 수 있습니다. PIONEER LCP 1100의 다른 주요 기능에는 동적 스테핑 기능 (dynamic stepping feature) 이 포함되어 있습니다. 맞춤형 테스트 시퀀스를 허용하는 멀티 피드백 모드; 프로버 (Prober) 가 단일 주기로 최대 20 개의 다른 테스트 사이트를 테스트 할 수있는 동적 등록 시스템 (dynamic registration system). LCP 1100 Prober는 구성 요소 및 웨이퍼를 테스트하는 데 가장 인기 있고 안정적인 도구 중 하나입니다. 다재다능하고 견고한 설계로 구성요소 테스트에 이상적인 전문가로서, 일관되고 정확한 데이터로 '직접' 테스트가 가능합니다.
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