판매용 중고 NIHON MICRONICS / MJC MP-10-8 #9086733

NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober는 칩, 트랜지스터 및 집적 회로 (IC) 와 같은 다양한 반도체 장치의 전기 특성을 측정 할 수있는 완전 통합 고속 프로버 장비입니다. 이 시스템은 전기 응답 시간 (electrical response time), 칩 크기 (chip size), 저항 (resistance) 등 장치의 전기 특성을 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 이 장치는 또한 기계적 프로브 (mechanical probing), 전기 프로브 (electrical probing) 및 역방향 프로브 (reverse probing) 와 같은 다양한 프로빙 기술을 지원합니다. MJC MP-10-8 Prober는 최대 15kHz의 속도로 측정 할 수 있으며 프로브를 위해 500 바늘 배열을 갖습니다. "바늘 '은 움직 일 수 있는 팔 에 장착 되어 있으며, 장치 와 빠르고 정확 한 접촉 을 할 수 있다. 바늘은 조절 가능하며, 다양한 크기 칩 및 장치를 수용하도록 장착 할 수 있습니다. 이 기계는 환경 모니터링을 위한 다양한 센서를 포함하고 있으며, 데이터 수집 (Data Collection) 및 분석 (Analysis) 을 위해 모든 컴퓨터에 쉽게 연결할 수 있습니다. NIHON MICRONICS MP-10-8 Prober는 자동 플랫폼을 가지고 있으며, 쉽고 정확하게 다양한 테스트를 수행 할 수 있습니다. 온보드 신호 생성기 및 mal-probing 검출기가 장착되어 정확한 결과를 보장합니다. mal-probing 검출기의 범위는 최대 500 äm이며, 칩에 브리지, 반바지 및 기타 오작동이 있음을 감지 할 수 있습니다. 이 도구에는 드라이브 전압 보호 (Drive Voltage Protection) 및 짧은 회로 보호 (Short-Circuit Protection) 가 포함되어 있어 장치에 손상이 발생하지 않습니다. MP-10-8 Prober에는 정확하고 일관된 Probe를 허용하는 통합 PID 피드백 컨트롤러도 있습니다. 프로브 (Probe) 가 지정된 범위 내에 있는 한 지속적인 접촉을 유지하기 위해 컨트롤러를 프로그래밍할 수 있습니다. 이는 결과의 정확성과 반복성을 높이는 데 도움이됩니다. NIHON MICRONICS/MJC MP-10-8 Prober에는 데이터를 쉽게 측정, 분석, 저장하는 고급 사용자 친화적 소프트웨어 패키지도 포함되어 있습니다. 이 패키지는 사용자 정의 가능한 테스트 매개변수를 허용하며, 온도 루프 (temperature loop) 및 압력 설정 (pressure setting) 과 같은 매개변수를 조정하는 데 사용할 수 있습니다. 또한 인쇄물, 그래픽 플롯, 통계 분석 등 다양한 데이터 분석 기능도 지원합니다 (영문). MJC MP-10-8 (MJC MP-10-8) 은 다양한 어플리케이션에 적합한 신뢰할 수 있는 고속 프로버 자산입니다. 개발 프로세스 (development process) 또는 지속적인 운영 과정에서 장치를 테스트하는 데 이상적입니다. NIHON MICRONICS MP-10-8의 유연하고 효율적인 특성은 정확한 측정과 안정적인 결과를 보장합니다.