판매용 중고 NBK MPS-200 #9397408

NBK MPS-200 (NBK MPS-200) 은 반도체 산업의 웨이퍼 구조, 미립자 오염 및 기타 결함을 정확하게 측정하고 검사하도록 설계된 고급 전문가입니다. 분석 정확성을 높이고, 분석 시간과 비용을 절감할 수 있는 고급 (advanced) 기능을 갖추고 있습니다. MPS-200 에는 모든 움직임을 감지할 수 있는 고성능 스테퍼 모터가 장착되어 있어 측정값의 정밀도 (high-precision) 와 반복 (repeatability) 이 가능합니다. 0.7 미크론 XY 해상도를 가지며 다양한 웨이퍼 크기로 작동 할 수 있습니다. 초점 깊이는 또한 광범위한 캐리어 두께 (carrier thickness) 및 입자 크기를 수용하도록 확장됩니다. NBK MPS-200은 확장 X/Y Area, Auto-Calibration Station, Vacuum Handler, Automatic Probe Retract Equipment 및 Diagnostic System과 같은 다양한 옵션으로 구성 할 수 있습니다. 자동 교정 스테이션 (Auto-Calibration Station) 은 높은 정확도의 이미지 획득과 미세한 측정을위한 안정적인 위치를 허용합니다. 진공 처리기 (Vacuum Handler) 는 진동을 줄이고 안정성과 정확성을 향상시키는 진공 장치를 사용하여 웨이퍼 픽업, 홀딩 및 배치를 제공합니다. 자동 프로브 리트랙트 머신 (Automatic Probe Retract Machine) 은 전송 및 측정하는 동안 프로브를 안전하고 빠르게 설치 및 리트랙트할 수 있도록 합니다. MPS-200의 다른 기능으로는 저진동, 저소음, 높은 정확도, 높은 측정 속도 및 고성능 다중 모드 적외선 스캔 및 열 분석이 있습니다. NBK 고급 알고리즘을 사용하면 플러스 (+) 또는 마이너스 (-) 0.3um의 반복 가능성과 최소 0.01um의 감도로 웨이퍼 표면에서 결함을 감지하고 찾을 수 있습니다. 또한 NBK MPS-200 은 고성능 이미지 처리 툴 (image processing tool) 과 아카이빙 (archiving) 기능을 갖추고 있어 측정 기록을 안전한 데이터베이스에 저장할 수 있습니다. 이는 측정 및 검사의 반복성과 정확성을 보장합니다. 또한, 여러 측정 시스템의 데이터 (data) 를 통합적으로 분석하여 웨이퍼 서피스 (wafer surface) 피쳐와 기타 요소 간의 관계를 정확하게 식별 할 수 있습니다. 요약하면, MPS-200은 안정적이고 정확한 웨이퍼 측정 및 검사를 위해 설계된 고급 전문가입니다. 고급 기능을 통해 분석 정확도를 높이고, 분석 시간과 비용을 줄일 수 있습니다.