판매용 중고 MULTIPROBE MP1 #9298959

MULTIPROBE MP1은 반도체 고장 분석 및 신뢰성 연구소에 사용하도록 설계된 고성능 프로버입니다. 현대식 고장분석 실험실 (Failure Analysis Laboratory) 의 기능을 향상시켜 넓은 치수를 높은 수준의 정확도와 정밀도로 측정 할 수 있다. MP1에는 고정밀 Z축 스테이지가 장착되어 있으며, 이 스테이지에는 해상도 1nm, 반복 속도 5nm로 프로브 팁을 이동할 수 있습니다. 또한 X-Y 스테이지 해상도 5äm, 반복 가능성 5nm로 가장 작은 기능을 측정 할 수 있습니다. Z축은 3-D에서 위치 지정 및 스캔을 용이하게하기 위해 동력화됩니다. MULTIPROBE MP1 (MULTIPROBE MP1) 에는 "접촉 트리거 (Contact Trigger)" 기능이 장착되어 있어 Probe 팁과 샘플 사이의 접촉을 적극적으로 감지하고 캡처하여 샘플의 작은 피쳐 크기를 쉽게 측정할 수 있습니다. 이 검사는 "3D 스캔", "연속 선 스캔", "영역 스캔" 및 "패턴 일치" 와 같은 여러 측정 옵션을 갖춘 최첨단 비전 시스템을 갖추고 있습니다. 이 비전 시스템은 전체 검사 정확도를 향상시키고 결함을 자동으로 감지 할 수 있습니다. MP1은 또한 고품질 이미징 (Imaging) 을 지원하므로 미세한 기능을 파악하고 분석 할 수 있습니다. 이미지와 데이터를 모두 JPG 및 PNG 를 포함한 다양한 형식으로 기록, 저장할 수 있으므로, '장애 분석' 에 유용하고 유용한 데이터를 제공합니다. 멀티프로브 MP1 (MULTIPROBE MP1) 은 간단하고 편리한 인터페이스를 통해 사용하기 쉽고 처리할 수 있도록 설계되었습니다. 모든 '장애 분석 (Failure Analysis)' 및 '테스트 (Testing)' 프로세스의 특정 요구 사항에 맞게 다양한 출력 옵션을 제공하여 적시에 정확하고 정확한 측정치를 얻을 수 있습니다. 또한 MP1 은 포괄적인 보증 및 전담 지원 팀 (Supported Team) 의 지원을 받아 Prober 가 적절한 작업 상태를 유지하도록 합니다. 이를 통해 MULTIPROBE MP1은 수년간 실험실에서 사용하기에 안정적이고 적합합니다.