판매용 중고 MULTIPROBE MP1 #9118406

MULTIPROBE MP1은 광범위한 테스트 어플리케이션을 위해 설계된 자동화된 고정밀 웨이퍼 프로브 장비입니다. 소형 접촉을 조사하는 데 적합한 100mm 전동 나이프 에지 (Motorized Knife) 직각 프로브 및 더 큰 접촉을 조사하기위한 200mm 슬롯 나이프 에지 (Cylindrical) 프로브를 갖추고 있습니다. 이 장치에는 3 개의 도량형 시스템, 레이저/포토 마스크, 정전 센서 및 핀저 도량형 시스템 (Tweezer Metrology System) 이 있으며, 이 장치를 웨이퍼 전체에 정확하게 배치 할 수 있습니다. 이 장치는 또한 고급 현미경 시스템 (Advanced Microscopy Systems) 과 접촉 크기, 모양, 방향을 측정하기위한 다양한 개발 프로토콜을 갖추고 있습니다. MP1 은 강력한 소프트웨어 (Software) 와 하드웨어 (Hardware Machine) 를 결합한 프로그래밍 가능한 인터페이스를 통해 다양한 고도의 테스트 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 유연한 메모리, 광학 및 광학 (optical-mechanical) 프로브 전체 제품군, 고급 패턴 (patterning) 기능을 통해 기존 수동 테스트에서 일부 시간에 여러 웨이퍼 프로브 (wafer probe) 테스트 주기를 완료할 수 있습니다. 이 도구는 해상도를 최대 2 초까지 달성 할 수 있으며, 최대 10 MHz의 여러 주파수에서 테스트 할 수 있습니다. MULTIPROBE MP1은 고밀도 인쇄 회로 기판을 효율적으로 제조하거나 일회성 설계를 조사하기 위해 설계되었습니다. 임베디드 (Embedded) 프로그래밍을 통해 생산 테스트, 실험실 테스트, 고급 장애 분석 (Advanced Failure Analysis) 등 다양한 시나리오에서 장치를 사용할 수 있습니다. 이 장치는 광학 장치, RF 장치, 전원 장치 등 높은 정확도, 속도, 재생성이 필요한 어플리케이션에 적합합니다. 이 장치에는 위치와 길이가 정확한지 확인하기 위해 다양한 내장 도량형 시스템이 있습니다. MP1 의 초정밀 웨이퍼 프로브 (Wafer Probing) 기능은 실험실이나 공장 바닥에서 집적회로 (Integrated Circuit) 를 테스트하는 완벽한 솔루션입니다. 강력한 설계, 매우 정밀한 Probing 팁, 유연한 하드웨어/소프트웨어를 통해 모든 테스트 어플리케이션에 적합한 안정적이고 경제적인 솔루션입니다.