판매용 중고 MPI LEDA-P7202 #9258060

MPI LEDA-P7202는 최첨단, 무접촉 프로버, 무접촉 프로브 포지셔닝 장비로, 와퍼 테스트 및 분석을 위한 다양한 기능을 제공합니다. 프로버 (Prober) 에는 수직 스캐닝 메커니즘이 장착되어 있어 웨이퍼 서피스에 대한 프로브를 정확하게 정렬할 수 있습니다. 웨이퍼 배치 시스템 (wafer placement system) 은 대량 생산 프로세스를 위해 설계되었으며 여러 웨이퍼를 동시에 처리하는 데 사용될 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 고유하고 복잡한 함수 세트를 갖추고 있어 최적의 성능을 위해 정확한 웨이퍼 (Wafer) 위치와 프로브 정렬을 보장합니다. 여기에는 넓은 영역 패턴 인식 및 사용자 정의 알고리즘을 사용하여 웨이퍼 서피스의 지형을 분석하는 다중 센서 포지셔닝 장치 (multi-sensor positioning unit) 가 포함됩니다. 또한, 기계에는 3D 웨이퍼 정렬 메커니즘이 포함되어 있는데, 이를 조정하여 웨이퍼 컴포넌트에 대한 프로브를 빠르고 정확하게 정렬할 수 있습니다. 또한, 프로버에는 최대 50 개의 뉴턴 클램핑 힘을 생성 할 수있는 매우 높은 정밀 웨이퍼 클램핑 메커니즘이 포함되어 있으므로 안전하고 안정적인 웨이퍼 처리가 가능합니다. 프로버 (Prober) 에는 통합 웨이퍼 및 프로브 리프트 도구 (Probe Lift Tool) 가 포함되어 있어 프로브 정렬 과정에서 웨이퍼가 손상되지 않습니다. 리프트 에셋은 최대 50 밀리미터 (mm) 까지 조정할 수 있으며, 핸드 휠 또는 PC를 통해 독립적으로 제어되는 반면, 웨이퍼 및 프로브의 정확하고 반복 가능한 위치를 제공합니다. 이 프로버의 또 다른 중요한 특징은 자동 보상 모델 (automated compensation model) 인데, 이 모델은 자동으로 웨이퍼 위치를 조정하여 열 드리프트 및 진동을 보완합니다. 프로버 (Prober) 에는 고해상도 이미징 장비가 포함되어 있는데, 이 이미징 장비는 와퍼에 기계적으로 접촉하지 않고도 웨이퍼 테스트 결과를 검사하는 데 사용할 수 있습니다. 이 시스템에는 디지털 카메라, 레이저 조명, 이미지 분석 소프트웨어 (software for image analysis) 가 포함되어 있어 정확하고 안정적인 데이터를 얻을 수 있습니다. 또한, 프로버에는 광학 현미경, IR 및 UV 분광계, X- 선 이미징 및 푸리에 변환 디지털 간섭계 (Fourier transform digital interferometry system) 와 같은 다른 많은 광학 시스템이 장착 될 수 있습니다. 마지막으로, Prober는 전용 소프트웨어나 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 원격으로 제어할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 장치를 빠르고 쉽게 프로그래밍하고, 웨이퍼 테스트 프로토콜을 설정하고, 자동화된 프로세스를 실행할 수 있습니다. 이 Prober는 USB, GPIB, RS-232 및 Ethernet과 같은 많은 업계 표준 인터페이스와도 호환됩니다. 전반적으로, LEDA-P7202는 정밀 웨이퍼 테스트 및 분석에 이상적인 증명으로, 높은 수준의 성능과 안정성을 제공합니다. 최첨단 기술과 기능을 활용하여 정확하고 효율적인 Probing 을 보장하며, 대용량 운영 환경에서 손쉽게 구축, 운영할 수 있습니다.