판매용 중고 MPI-FC LEDA-8S P7202 #9181615

MPI-FC LEDA-8S P7202는 매우 다양한 장치 구조의 고정밀 조사를 위해 설계된 완전 자동화 프로브 스테이션입니다. 특히 VLSI, ULSI, OLED, MEMS 및 NVM과 같은 소규모 미세 전자 및 광전자 기판을 조사하는 데 적합합니다. 프로브 스테이션은 최대 25mm × 15mm의 광범위한 기판과 최대 1.1mm의 기판 두께를 처리하도록 설계되었습니다. MPI-FC LEDA-8S는 테스트 중 전기 크로스 토크를 줄이기 위해 UHV (Ultra High Vacuum) 모듈과 함께 제공됩니다. 자동 프로브 스테이션은 작은 구조의 조사 및 특성, RF 관련 구성 요소의 6 점 및 8 점 멀티 사이트 테스트, 광학 장치 감지 및 일반 이미징 응용 프로그램 등 다양한 용도로 사용될 수 있습니다. 사용자에게 친숙한 알루미늄 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 특징입니다. 수동 밀링 테이블이 있는 전동 XY 단계 (Motorized XY Stage) 를 사용하면 최대 5um 해상도로 프로브를 정확하게 배치 할 수 있습니다. 또한 70mm 목표를 통해 조사 중인 기능을 더 잘 볼 수 있습니다. LEDA-8S P7202 는 설치 시간을 줄이고 사용자가 더 많은 반복 가능성을 제공하여 Probe 프로세스를 최적화하도록 설계되었습니다. 이 설계에는 4 개의 특수 프로브, 3 개의 가이드 슬리브에 동봉 된 3 개의 프로브 및 UHV 모듈에 직접 연결된 다른 프로브가 있습니다. MPI-FC LEDA-8S는 비 UHV 버전보다 임피던스 및 크로스 토크 측면에서 탁월한 전기 성능을 제공합니다. 닫힌 루프 광학 자동 초점 시스템은 뛰어난 반복성과 정확성을 제공합니다. MPI-FC LEDA-8S P7202는 RF, 광학, 경계 및 반전 프로브를 포함한 다양한 유형의 프로브에 최적의 성능을 제공합니다. RF 제어 고전압 (High Voltage) 공급 장치를 장착하여 성능과 정확도를 극대화합니다. 또한 다양한 반도체 테스트 장비와 호환됩니다. 결론적으로, LEDA-8S P7202는 매우 정밀한 자동 프로브 스테이션 (Automated Probe Station) 으로, 다양한 장치 구조와 부품에 대한 매우 정밀한 조사 및 테스트를 위해 설계되었습니다. 우수한 전기적 성능, 사용자 친화적 인터페이스, 닫힌 루프 자동 초점 시스템 등 다양한 기능을 통해, 정확성, 반복성 측면에서 최적의 성능을 제공합니다.