판매용 중고 MJC SP-80 #293807242

MJC SP-80 은 wafer/product 수준에서 칩을 테스트하도록 설계된 정교한 웨이퍼 프로버입니다. 저용량 (low-volume) 생산 환경에서의 칩 테스트에 이상적이며, 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 이 프로버는 컴팩트하고 공간 절약이 가능하며, 0.15m 간격 크기 공차 설정으로 뛰어난 정확도를 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 완전히 자동화되었으며 테스트 결과를 위한 성공률을 높일 수 있는 다양한 기능을 제공합니다. 최대 50 N의 고성능 (High Force) 설정 용량을 제공하여 고성능 부품을 테스트할 수 있습니다. 온보드 난방 기능은 최대 200 ° C에 도달하여 핫 테스트에 적합합니다. SP-80 은 와이드 피치, PBGA, BGA 테스트와 같은 다양한 표준 디바이스 테스트 형식을 지원합니다. 사용자 친화적 테스트 프로그램 (user-friendly test program) 을 선택하면 사용자가 실행 중인 응용 프로그램에 대해 원하는 테스트 프로그램을 손쉽게 선택할 수 있습니다. 또한 최대 4 개의 아날로그 감지 모듈과 1 개의 디지털 인터페이스 보드를 장착하여 추가 테스트 기능을 제공 할 수 있습니다. 이 Prober에는 직관적 인 소프트웨어 인터페이스와 1,500 개가 넘는 장치 테스트 기능이있는 강력한 SDK (Library of 1,500) 가 포함되어 있습니다. 안전하지 않은 지점을 찾기 위한 자동 감지 (auto-detection) 기능이 있으며 내장형 열 (thermal) 이 너무 빨리 감지되어 열 장애를 찾습니다. 안정적이고 사용하기 쉬운 인터페이스로, 사용자는 디바이스를 테스트하면서 정확하고 양질의 데이터를 액세스할 수 있습니다. MJC SP-80 은 다양한 테스트 포인트와 호환되며, 최대 샘플 크기는 200mm 입니다. 이 소프트웨어는 최대 900 개의 테스트 프로그램을 동시에, 최대 3,000 개의 테스트 포인트를 로드할 수 있으며, 자동 테스트 시스템과 통합될 수 있습니다. 고급 기능을 통해 사용자는 테스트 프로그램을 저장, 편집, 리콜, 관리할 수 있으며, 보안 기능을 통해 외부 액세스로부터 고객의 데이터를 보호할 수 있습니다. SP-80 은 저용량 생산 테스트에 이상적인 다목적, 신뢰성 있는 반도체 웨이퍼 프로버입니다. 고급 (advanced) 기능과 자동화 (automated) 기술을 통해 사용자는 정확하고 효율적으로 장치를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있습니다.