판매용 중고 MJC PROBE INC MPI LEDA-8F-3G PLUS #9182147

MJC PROBE INC MPI LEDA-8F-3G PLUS는 다양한 고급 초전도체 응용 프로그램을 위해 설계된 다목적 전문가입니다. 이 검사는 매우 자동화되고 직관적이며, 복잡한 샘플을 신중하게 측정하고, 테스트할 때 뛰어난 반복성과 정밀도를 제공할 수 있습니다. LEDA-8F-3G PLUS는 조정 가능한 정렬이 가능한 완전 자동화 플랫폼과 최대 2 "크기의 샘플을 정확하게 측정 할 수있는 컴퓨터 제어 3D 매핑 시스템을 갖추고 있습니다. 이 Prober에는 강력한 8 채널 멀티플렉서와 3 개의 독립 데이터 획득 카드가 장착되어 있으며, 이를 통해 데이터를 실시간으로 수집하고 저장할 수 있습니다. 내장형 카메라 세트를 사용하면 샘플을 시각적으로 검사할 수 있고, 측정하는 동안 프로버 (Prober) 위치를 확인할 수 있습니다. LEDA-8F-3G PLUS는 또한 DC, AC 및 펄스 신호의 제어, 측정 및 시각화를 위해 매우 동적 ac/dc 전류/전압 소스와 최대 48 개의 독립 채널을 제공합니다. 이 프로버는 또한 고해상도 이미징, 활성 스위칭, 전압 명암과 같은 다양한 측정 기능을 지원합니다. 또한, 이 prober는 온도 및 습도, 샘플 저항 및 소산 전력 측정을 모두 제어합니다. 또한, LEDA-8F-3G PLUS에는 다양한 소프트웨어 패키지가 장착되어 있어 고급 작동 및 사용자 정의가 가능합니다. LEDA-Probe 소프트웨어 패키지에는 데이터 획득 최적화, 전용 고급 프로그래밍 인터페이스, 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 등의 기능이 포함되어 있습니다. 고급 PECOM (Advanced PECOM) 패키지를 사용하면 프로버의 자기장 (magnetic field) 을 제어하고 이러한 필드가 현재 전달에 미치는 영향을 측정할 수 있습니다. 전반적으로, MPI LEDA-8F-3G PLUS는 다양한 고급 초전도체 응용 프로그램에 사용하기 위해 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하기 위해 설계된 고급, 자동 검시자입니다. 이 Prober는 컴퓨터 제어 3D 매핑 시스템, 고해상도 이미징, 기타 여러 측정 기능을 갖추고 있습니다. 또한, 이 Prober에는 고급 작업 및 사용자 정의가 가능한 강력한 소프트웨어 패키지가 장착되어 있습니다.