판매용 중고 KLA / TENCOR 1007E #293828363
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KLA/TENCOR 1007E는 다양한 마이크로 일렉트로닉 구성 요소의 분석 및 테스트를 위해 특별히 설계된 프로버입니다. 업계 최고 수준의 통합, 자동화, 프로세스 제어 (Process Control) 기능을 제공하는, 현재 시중에서 출시되고 있는 풍부한 기능을 갖춘 Probing 솔루션 중 하나입니다. KLA 1007E 프로버는 MEMS/MOEMS, 고급 센서, 다이오드, 트랜지스터, 커패시터, 인덕터 및 기타 구성 요소를 포함한 다양한 장치를 분석하도록 설계되었습니다. 직경 40mm (최대 40mm) 의 구성 요소를 분석할 수 있으며, 처리 속도는 시간당 최대 6,000 웨이퍼입니다. 이 프로버는 또한 무접촉 CPFL 옵션을 특징으로하며, 이는 최대 ± 1,500 볼트의 전압 범위로 정확하고 반복 가능한 전압 측정을 가능하게합니다. 프로버 (Prober) 에는 까다로운 운영 환경에서 안정적으로 작동할 수 있도록 여러 가지 고급 기능이 포함되어 있습니다. 이 검사는 온도 보상이 가능하며 -40 ° C ~ + 60 ° C (-40 ° F ~ + 140 ° F) 의 온도에서 작동 할 수 있습니다. 또한 0.0001mm 해상도의 X/Y 서보 모터가 특징이며, 컴포넌트 정렬을 위해 빠르고 정확하게 이동하도록 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 에는 테스트 객체의 빠른 로드 및 언로드를위한 이동식 웨이퍼 로드 잠금 챔버 (Wafer Load Lock Chamber) 도 포함되어 있습니다. 또한 TENCOR 1007E prober에는 통합 사용자 인터페이스와 일련의 강력한 시스템 프로그래밍 도구가 있습니다. 여러 가지 측정 루틴 (measurement routine) 과 자동화 툴 (automation tools) 을 제공하여 테스트 프로세스를 사용자 정의하고 반복 가능성을 보장할 수 있습니다. 또한 통합 OCR 스캐너를 포함하며, 테스트 전에 구성 요소를 식별하는 데 사용할 수 있습니다. 1007E prober는 매우 강력하고 안정적이며 비용 효율적인 Probing 솔루션입니다. 이 제품은 대용량 (high and low volume) 생산 환경의 요구를 모두 충족시켜 마이크로일렉트로닉 (microelectronic) 구성 요소를 효율적이고 정확하게 분석할 수 있도록 설계되었습니다.
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