판매용 중고 KLA / TENCOR 1007E #293827386
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KLA/TENCOR 1007E Prober는 반도체 장치의 정확한 전기 테스트 및 결함 진단을 위해 설계된 자동 장비입니다. 시스템은 DUT에 DC 전압을 적용하고 결과 전류를 측정하여 테스트 중인 장치 (DUT) 의 전기 특성을 측정하는 정확한 프로버 (prober) 를 사용합니다. 이 장치는 프로브 헤드 (Probe Head) 와 기지국 (Base Station) 으로 설계되었으며, 정확한 전기 테스트가 가능한 정밀도로 장치에 프로브를 배치하는 데 사용됩니다. 기계는 프로브 압력 제어 (Control of the Probe Pressure), 프로브 간격 타이머 (Probe Interval Timer) 및 테스트 패턴의 주파수 (Frequency) 와 같은 다양한 프로그래밍 가능한 설정을 제공합니다. KLA 1007E Prober는 Single-end Probing, Differential Probing 및 Vertical Probing과 같은 다양한 프로브 옵션을 제공합니다. 이러한 유형의 Probe를 사용하면 Contact Level 에서 테스트 중인 Device 를 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한 자동화된 웨이퍼 맵 무결성 검사기 (Automated Wafer Map Integrity Checker) 가 장착되어 있어 운영 라인의 추가 단계를 통해 정확한 결과를 확보하고 반도체 (Semiconductor) 장치를 보다 자세히 분석할 수 있습니다. TENCOR 1007E Prober는 자동 데이터 수집, 웨이퍼 레벨 분석 등 다양한 기능을 제공합니다. 자산은 장치의 현재 곡선, 임계값 (threshold voltage), 장치 커패시턴스 (device capacitance) 및 기타 장치 특성 등 다양한 지점에서 데이터를 수집할 수 있습니다. 또한 Prober는 강력한 대화형 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 제공하여 테스트 (Test) 를 빠르고 쉽게 프로그래밍할 수 있습니다. 그 결과, 프로버 (Prober) 는 높은 수준의 자동화 및 유연성을 제공하여 운영 및 테스트 프로세스의 효율성을 높입니다. 1007E Prober는 자동화된 기능을 제공하는 것 외에도 LAN/이더넷 연결을 통한 프로그래밍 및 소프트웨어 업데이트를 제공합니다. 이 기능을 통해 사용자는 원격으로 모델을 제어하고 프로그래밍 옵션과 데이터 (data) 를 액세스할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 업계 표준 소프트웨어 패키지와 호환되며, 응용 프로그램의 특정 요구 사항에 따라 장비를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. KLA/TENCOR 1007E Prober는 고정밀 측정 기능, 정확한 Probing 옵션, 강력한 소프트웨어 지원 등의 조합을 제공하여 자동화된 테스트 및 장애 진단을 위한 효과적인 솔루션을 제공합니다. 제조업 (Manufacturing) 문제 해결 및 공정 제어가 향상되어 반도체 생산 업계의 안정적인 파트너가 됩니다.
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