판매용 중고 KLA / TENCOR 1007 #9094261

KLA/TENCOR 1007은 뛰어난 정확성과 반복성을 갖춘 고성능 다목적 전기 전문가입니다. KLA 1007은 웨이퍼 테스트, 단일 칩 테스트, 레코딩 테스트 등 다양한 프로빙 절차에 사용할 수 있습니다. 다목적 레이아웃을 통해 유연한 구성을 통해 특정 애플리케이션에 대한 Prober를 최적화할 수 있습니다 (영문). TENCOR 1007은 나노 스케일 장치의 제작을 위해 설계된 8 개의 GIO (8 열 상호 연결 노즐) 플랫폼입니다. 노즐은 작은 다이 (die) 및 니어 아톰 (near-atom) 스케일 테스트에 필요한 요구 사항을 충족시키기 위해 좁은 피치와 높이를 가진 고밀도 포장을 갖추고 있습니다. 프로버의 다중 핀 및 단일 점 접촉 테스터 (single-point contact tester) 는 정확도가 나노 미터까지 정확한 접촉 측정을 가능하게합니다. Prober's Open Architecture를 사용하면 프로젝트 요구에 따라 Probe 테스트 성능을 수정할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 테스트 헤드 (test head), 테스트 헤드 리프트 제한 (test head lift limit) 및 프로브 (probe) 카드를 사용자 정의할 수 있으며 개별 어플리케이션마다 맞춤식 프로브 솔루션을 사용할 수 있습니다. 또한 1007 은 자동화된 정렬 장비를 갖추고 있어 최대 8 도 (off-axis) 의 각도에서 빠르고 정확한 웨이퍼 측정이 가능합니다. 초소형 접촉력을 측정하고 정확한 접촉력 (Contact Force) 측정을 수행할 수 있는 고정밀도 고단계 (High-Precision, High-Force Measurement System) 를 갖추고 있다. KLA/TENCOR 1007에는 스파이크, 밴드 또는 기타 움직임에서 프로브 힘 수준을 정확하게 테스트하는 로드 측정 기능도 있습니다. 마지막으로, 프로버 (Prober) 는 시야가 16mm 인 고속 시력 장치 (High Speed Vision Unit) 와 해상도 (Resolution) 가 장착되어 테스트 중에 남을 수있는 작은 결함이 발견되고 빠르게 수정됩니다. 이 기계는 다양한 각도와 거리에서 샘플을 찾고 검사할 수 있으며, 테스트/측정 시스템의 실시간 정렬 (real-time alignment) 및 교정 (calibration) 을 수행할 수 있습니다. KLA 1007 은 단일 칩 프로세스에서 BURN (Burn-in Testing) 에 이르는 프로세스에 대한 아키텍처 유연성, 반복성 및 정밀도 측정에 대한 최고의 검증입니다. 또한 모듈식 설계 및 고속 비전 (high-speed vision) 도구를 통해 다양한 테스트 구성과 강력한 도량형 기능을 사용할 수 있습니다.