판매용 중고 KARL SUSS / MICROTEC PA 300 #9249014

KARL SUSS/MICROTEC PA 300은 집적 회로 (integrated circuit) 및 소형 웨이퍼 (small wafer) 와 같은 샘플의 구성 요소를 정확하고 정확하게 측정하고 분석하도록 설계된 고정밀 프로버 기기입니다. MICROTEC PA 300의 넓은 작업 면적은 거의 500mm x 500mm이며, 큰 샘플 크기를 조사 할 수 있습니다. 자동 샘플링 (sample leveling) 및 중앙 집중식 (centering) 장비는 빠른 단계 및 반복 동작 최적화 샘플 단계를 통해 샘플을 일관되게 정렬하고 시스템 시간을 최소화합니다. 이 장치는 세 가지 주요 구성 요소 (샘플 포지셔닝 단계, 프로브 헤드 및 프로브 카드) 로 구성됩니다. 샘플 위치 지정 단계는 X-Y 테이블, 높이 조정 메커니즘 및 정렬 머신으로 구성됩니다. 위치 지정 단계 (positioning stage) 를 통해 샘플의 정확한 이동과 프로브 (probe) 헤드의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 는 고전압 공급 및 프로브 카드로 구성되며, 이는 필요한 전기 측정 유형에 따라 맞춤식으로 구성됩니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 에는 테스트되는 샘플의 정확한 패턴과 형상에 맞게 선택된 다양한 프로브 팁 (Probe Tip) 이 있습니다. KARL SUSS PA300의 고급 소프트웨어 제품군은 검사 프로세스를 자동화하는 데 도움이됩니다. 자동 레벨 (auto leveling) 기능을 통해 수동으로 샘플을 레벨링하지 않고도 Probe 패턴을 쉽고 빠르게 생성할 수 있습니다. 측정 매개변수 (measurement parameters) 는 각 측정에 대해 설정할 수 있으며, 이러한 매개변수는 나중에 사용할 수 있도록 저장할 수 있습니다. 또한 수동 개입 (Manual Intervention) 을 허용합니다. 여기서 사용자는 수동으로 연락처 (Contact Point) 매핑을 조정할 수 있으며 프로브 (Probe) 포지셔닝의 정렬 및 속도를 조정할 수 있습니다. MICROTEC PA300 Prober에는 고급 시각적 인식 (Visual Recognition) 소프트웨어가 장착되어 있어 조사 과정의 정확도를 높입니다. 테스트된 샘플 (예: 저항기, 회로) 의 피쳐를 자동으로 식별할 수 있으며, Probe를 위한 최적의 위치를 계산할 수 있습니다. 고해상도 카메라와 함께, 프로버 (Prober) 는 샘플 표면의 이미지를 입수하여 컴퓨터에 표시하여 시각적 검사를 할 수 있습니다. KARL SUSS PA 300은 또한 자동 데이터 보고 (automated data reporting) 를 지원하므로 샘플의 전기적 특성을 적시에 분석 할 수 있습니다. 종이 보고서 (Paper Report) 나 그래프 (Graphs) 를 생성하고 다른 소프트웨어 애플리케이션으로 데이터를 익스포트하여 수많은 데이터 분석에 적합합니다. 전체적으로 PA 300은 집적 회로 (integrated circuit) 및 기타 샘플 컴포넌트를 측정하고 분석할 수 있는 정확하고 안정적인 솔루션을 제공합니다.