판매용 중고 KARL SUSS / MICROTEC PA 200 #293720843

KARL SUSS/MICROTEC PA 200은 BGA (Ball Grid Array) 및 CSP (Chip-Scale Package) 와 같은 도전적인 고밀도 패키지뿐만 아니라 메모리, 논리 및 디지털 장치의 조사 및 전기 테스트를 위해 설계된 프로버입니다. MICROTEC PA 200에는 8 인치 (8 인치) 원형 프로브 카드 홀더가 장착되어 있으며, 가장 접근하기 어려운 위치에서도 테스트 포인트가 개선 될 수 있습니다. 이 크기의 Probe 카드는 플래시 메모리, 마이크로프로세서, 프로그래머블 (programmable) 논리, 양극성 (bipolar) 메모리 장치, 표준 타워 패키지 등 다양한 유형의 장치에 적합합니다. 칼 수스 파-200 (KARL SUSS PA-200) 은 완전 자동화된 프로버로, 테스트 환경의 요구를 충족하는 다양한 맞춤형 옵션을 제공합니다. 자동 정렬 (pre-alignment) 및 보상 (compensation) 을 포함한 자동 설정과 Probe 카드 위치 및 온도를 제어하는 프로그래밍 가능한 명령 배열이 특징입니다. MICROTEC PA-200은 테스트 매개변수의 정확성을 보장하기 위해 OCR (Real-Time Optical Character Recognition) 스캔을 포함한 고급 온보드 도량형 기능을 갖추고 있습니다. Prober는 또한 표준 이중 Probe 직렬 데이터 시스템을 제공하여 전체 다이 레벨 (Die-Level) 테스트를 수행하고 테스트 지점 및 Netlist 접속을 특성화합니다. PA-200은 정확한 8 각도 전진 (forward) 동작 기능으로 제작되어, 코너가 단단한 구성에서도 멀티레이어 보드의 정확한 Probe를 가능하게 합니다. 이 Prober는 또한 MRAS (Multi Level Automatic Recipe Switchover) 기능을 제공하여 여러 장치를 동시에 테스트하고 여러 테스트 절차를 수행할 수 있습니다. 이 프로버는 듀얼 플랫 비 접점 셔틀 (non-contact) 셔틀 체인저 (shuttle tool changer) 로 제작되어 다양한 Probe 카드와 테스트 절차 사이에서 빠르고 쉽게 전환 할 수 있습니다. KARL SUSS PA 200은 대용량 테스트를 위해 제작되었으며 다양한 고급 사용자 친화적 기능을 제공합니다. 자동 헤드 정렬 시스템 (Automatic Head Alignment System) 과 구성 가능한 비전 시스템 (Configurable Vision System) 을 통해 정확한 설정 및 작동이 가능하며, 빠른 변경 프로브를 통해 다른 Probe 카드를 쉽게 전환할 수 있습니다. 프로버에는 마이크로 피치 (micro pitch) 및 z축 교정 소프트웨어 (Z축 보정 소프트웨어) 가 장착되어 각 테스트 포인트의 정확성을 자동으로 검증합니다. 또한 PA 200 (PA 200) 은 테스트 포인트가 사전 설정된 매개변수에서 벗어날 때마다 경고를 받는 향상된 오류 감지 기능을 제공합니다. 전반적으로 KARL SUSS/MICROTEC PA-200은 다양한 테스트 및 측정 요구에 적합한 다목적 대용량 프로버입니다. 다양한 맞춤형 옵션과 고급 온보드 도량형 (On-board Metrology) 기능으로 구축되었으며, 다양한 유형의 구성 요소에 대한 일관되고 정확한 테스트를 제공합니다. 고급 사용자 친화적 기능을 갖춘 KARL SUSS/MICROTEC PA 200은 모든 테스트 환경에 이상적인 선택입니다.