판매용 중고 JT JCP-2000 #9161612

JT JCP-2000은 실험실 환경에서 반도체, 광전자 및 마이크로파 구성 요소와 함께 사용하도록 설계된 프로브 스테이션입니다. 20 cm x 20 cm x 0.1-cm (8 "x 8" x 0.04 ") 작업 표면과 조정 가능한 측정 범위는 -20 ° ~ + 200 ° C입니다. JCP-2000 (JCP-2000) 은 또한 각 축에 인코더가있는 3 축 조절 가능 간트리 시스템을 통합하여 넓은 온도 범위에서 샘플의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 이 스테이션에는 X-Y, Z, U 및 R 축이있는 5 개의 민감한 고정밀 이동 단계가 있습니다. X 및 Y 스테이지는 25jm (0.001 ") 해상도로 설계되어 IR 측정에 이상적입니다. 또한, Z축의 스테이지에는 프로브 헤드 (Probe Head) 와 서피스 사이의 간격을 세밀하게 조정하기위한 스테퍼 모터 (Stepper Motor) 조정이 장착되어 있습니다. JT JCP-2000에는 Prober 인터페이스와 터치 스크린 디스플레이 제어판도 장착되어 있습니다. 터치 스크린을 통해 사용자는 측정 모드를 선택하고, 스테이지 설정을 구성하고, 노출 시간을 설정하고, 드라이브 속도를 선택할 수 있습니다. 이 화면은 측정된 프로파일 데이터를 표시하고 실시간으로 결과를 분석합니다. 또한 Prober 인터페이스를 통해 표준 PC에 접속하여 데이터 저장 및 분석을 수행할 수 있습니다. JCP-2000 (JCP-2000) 은 온도와 적용된 기계적 응력 모두에서 반도체 부품의 전기 특성을 측정하는 데 이상적인 다재다능한 기구입니다. 이로써 전자산업 (Electronics Industry) 의 많은 응용 분야에 대한 구성요소의 기본적인 연구와 개발에 적합하다. 견고한 구성과 고급 기능 (advanced features) 은 신뢰할 수 있고, 정확하며, 반복 가능한 실험을 제공하며, 프로버 스테이션을 찾는 모든 실험실에 적합한 선택입니다.