판매용 중고 JANDEL RM3-AR #182313

JANDEL RM3-AR Prober는 마이크로 일렉트로닉스 생산에 사용하도록 설계된 정확하게 설계된 자동 측정 및 검사 장비입니다. 개발 보드, MEMS 장치 및 기타 다양한 구성 요소 유형을 분석하고 조정하는 데 사용됩니다. RM3-AR 프로버 (RM3-AR Prober) 는 X 축과 Y 축 모두의 프로브를 포함하여 다양한 접촉 구성요소를 측정할 수 있으며, 컴포넌트 핀과 소켓 접촉 사이에 접촉합니다. 이 시스템은 시간당 최대 4,000 핀의 빠른 프로브에 최적화되어 있으며, 0.3mN ~ 200mN 범위의 접촉력이 가능합니다. 또한 JANDEL RM3-AR Prober에는 CUT (Test Under Test) 에서 구성 요소를 매우 정확하게 배치 할 수있는 견고한 통합 비전 장치가 있습니다. 이것은 유연한 자동화 기능과 결합하여, 기계가 추가 인간 개입 없이 최대 64 MB를 측정 할 수 있습니다. 또한 RM3-AR 프로버 (RM3-AR Prober) 에는 다양한 맞춤형 액세서리 및 소프트웨어 패키지가 장착되어 있어 사용자가 분석을 최적화할 수 있습니다. 여기에는 자동 인식 소프트웨어 (auto-recognition software) 가 포함되어 있어 컴포넌트 패키지를 주기적으로 스캔하여 정확한 Probe를 확인할 수 있습니다. 또한 런타임 (Runtime) 문제 해결 및 데이터베이스 액세스를 통해 테스트된 모든 구성 요소에 대한 정확한 정보를 제공합니다. 전반적으로 JANDEL RM3-AR 프로버 (JANDEL RM3-AR Prober) 는 가장 까다로운 운영 환경의 요구를 충족하도록 설계된, 고밀도 자동 테스트 도구입니다. 신뢰할 수 있는 결과, 구성 요소 배치 (component placement) 및 유연한 자동화 기능을 제공하여 다양한 애플리케이션의 요구 사항을 충족합니다.