판매용 중고 IWATSU SS-284A-H #293822353

IWATSU SS-284A-H는 IC (Integrated Circuit) 제조 및 연구 분야의 반도체 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 정밀 전문가입니다. 첨단 프로버 (Advanced Prober) 는 최첨단 기술과 기능을 통합하여 반도체 장치의 정확하고 효율적인 테스트를 제공합니다. SS-284A-H 프로버 (SS-284A-H prober) 의 핵심에는 정밀한 위치 지정 및 테스트 프로브 조작이 가능한 고정밀 기계 단계가 있습니다. 프로버에는 여러 축의 동작 제어 (motion control) 가 장착되어 있으며, 회전 이동뿐만 아니라 X, Y 및 Z 방향으로 이동할 수 있습니다. 이를 통해 프로버는 미크론 수준의 정밀도로 테스트 (DUT) 하의 반도체 장치에 테스트 프로브를 정확하게 배치 할 수 있습니다. IWATSU SS-284A-H 프로버 (Prober) 는 고해상도 이미징 장비를 갖추고 있으며, 이를 통해 운영자는 DUT에 따른 테스트 프로브 정렬을 시각적으로 검사 할 수 있습니다. 이 이미징 시스템에는 일반적으로 카메라와 이미지 처리 소프트웨어가 통합 된 고배율 현미경이 포함됩니다. 연산자는 이 이미징 장치를 사용하여 DUT (Contact Pad) 에 맞게 테스트 프로브를 정렬하고 정확한 테스트를 수행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 다양한 테스트 프로브 및 액세서리를 연결할 수있는 정교한 프로브 인터페이스 (Probing Interface) 를 갖추고 있습니다. Probing 인터페이스에는 일반적으로 테스트 프로브 연결을위한 여러 채널과 통합 신호 컨디셔닝 (signal conditioning) 및 측정 (measurement) 기능이 포함됩니다. 이를 통해 운영자는 DC 측정, AC 측정, 타이밍 분석 등 DUT에 대해 다양한 전기 테스트를 수행 할 수 있습니다. SS-284A-H Prober의 주요 기능 중 하나는 자동화 기능입니다. 이 Prober는 일반적으로 테스트 절차를 자동화할 수있는 전용 소프트웨어 플랫폼 (Software Platform) 에 의해 제어됩니다. 연산자는 테스트 시퀀스 (test sequences) 와 측정 매개변수 (measurement parameters) 를 정의하는 테스트 스크립트를 작성할 수 있으며, 소프트웨어는 Prober를 제어하여 테스트를 자동으로 수행합니다. 이 자동화는 시간을 절약하고 테스트 중 인적 오류의 위험을 줄입니다. IWATSU SS-284A-H 프로버는 또한 높은 처리량 테스트 응용 프로그램을 위해 설계되었습니다. 프로버 (Prober) 는 DUT의 여러 컨택트 패드에서 테스트 프로브를 신속하고 정확하게 배치 할 수있는 빠르고 정확한 프로브 메커니즘을 특징으로합니다. 이를 통해 운영자는 단시간 내에 많은 장치를 테스트할 수 있으며, 반도체 (semiconductor) 테스트 프로세스의 생산성 (productivity) 과 효율성 (efficiency) 을 높일 수 있습니다. 결론적으로, SS-284A-H 프로버는 반도체 제조 및 연구를위한 최첨단 테스트 도구입니다. 이 Prober는 정밀 기계적 단계, 고해상도 이미징 머신, 프로빙 인터페이스, 자동화 기능, 처리량 성능 등을 통해 반도체 장치에 대한 정확하고 효율적인 테스트를 제공합니다. 반도체산업 (Fast-Paced and Demanding) 업계에서 반도체 제품의 품질과 신뢰성을 보장하기 위한 필수 도구다.