판매용 중고 GIGATEST GTL 4040 #9111372

GIGATEST GTL 4040 Prober는 오늘날의 첨단 기술 제품의 엄격한 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계된 강력하고 정밀도가 높은 테스트 장비입니다. 이 시스템은 고해상도, 고해상도 프로버, 선형 모터 구동 웨이퍼 척 (Linear Motor Driven Wafer Chuck) 및 자동 웨이퍼 프로브 소프트웨어로 구성됩니다. 프로버는 극도의 정확성과 반복성으로 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 및 다이 테스트를 수행 할 수 있습니다. GTL 4040 Prober는 반도체, 전자 부품, 나노 구조 등 다양한 어플리케이션에 대해 안정적이고, 고해상도 및 반복 가능한 테스트 플랫폼을 제공하도록 설계되었습니다. 매우 작은 치수의 재료를 정확성 또는 신뢰성을 저하시키지 않고 1 도 (1 도), 0.1 도 (1 도) 로 정확하게 식별하고 차별화하도록 설계되었습니다. 프로버 자체는 정밀 피드백 및 제어 기능이 내장 된 선형 모터 구동 웨이퍼 척 (Linear Motor Driven Wafer Chuck) 으로 구성됩니다. 이 장치에는 자동 웨이퍼 스캔 및 탐지를위한 고급 비전 머신 (Advanced Vision Machine) 이 포함되어 있으며, 정밀 웨이퍼 감지 및 정렬을 위해 0.2äm 반복 가능합니다. GIGATEST GTL 4040 Prober는 매우 정확하고 반복 가능한 드라이브 도구를 제공하여 웨이퍼 척 (Wafer Chuck) 을 최대 7 축까지 매우 정확하게 배치할 수 있습니다. 이를 통해 복잡한 다이 테스트를 극도로 정확하고 반복 할 수 있습니다. 웨이퍼 척 (wafer chuck) 에는 빠른 기계식 프로브를위한 내부 테이블과 더 정확한 테스트를위한 여러 독립 프로브 카드가 포함되어 있습니다. GTL 4040 Prober는 대용량 생산 테스트에 이상적입니다. 유연하고 사용자 친화적인 Probing 소프트웨어는 테스트 단순화, 테스트 시간 단축, 처리량 향상을 위해 설계되었습니다. 적응형 테스트 헤드 (Adaptive Test Head) 를 통해 모든 테스트 애플리케이션에 대한 자산을 쉽게 구성할 수 있으며, 종합적인 웨이퍼 (Wafer) 데이터 캡처 및 분석 모델을 통해 프로세스 개발 및 디버깅에 유용한 툴이 됩니다. GIGATEST GTL 4040 Prober는 대용량, 정확하고 반복 가능한 웨이퍼 레벨 테스트를위한 필수 도구입니다. 이 제품은 현재 최첨단 기술 제품의 엄격한 요구 사항을 충족하는 한편, 신뢰성, 고해상도, 반복 가능한 테스트 플랫폼을 제공하도록 설계되었습니다. GTL 4040 Prober는 최고의 정확성과 반복성을 제공하여 운영/프로세스 개발 애플리케이션에서 정확하고 일관된 결과를 얻을 수 있습니다.