판매용 중고 FITTECH LFP6000 #293659505

FITECH FITTECH LFP6000 프로버 (Prober) 는 섬세한 반도체 재료를 조사하기위한 고성능 테스트 솔루션으로, 반도체 재료의 특성에 대한 안정적이고 정확한 판독값을 제공합니다. 테스트 위치 사이에서 빠르게 움직이는 8 축 스캔 헤드 (8 축) 를 갖춘 프로버 (prober) 는 초미세 해상도의 재료를 40 µm 작게 자동화 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 반복 가능한 정확도와 읽기에서 최소 드리프트 (drift) 로 고품질 데이터 세트를 생성 할 수 있습니다. FITECH LFP6000 프로버는 실리콘, 질화 갈륨, 질화 알루미늄, 심지어 그래 핀과 같은 특수 재료와 같은 다양한 재료를 테스트하도록 설계되었습니다. Prober는 Contact 및 Non-Contact 시스템을 사용하여 사용자가 Probe를 빠르고 정확하게 교환 할 수 있습니다. Prober는 웨이퍼 스캔, 다이 투 다이 프로브, 다이 투 패키지 프로브, 전기 매개변수 측정과 같은 여러 기능을 제공합니다. 또한, 프로버에는 바 코드 스캐너 (bar code scanner) 가 있으며, 이를 사용하여 웨이퍼 정보를 빠르게 읽고 저장하고 프로브 정확도를 더욱 높일 수 있습니다. 이 Prober는 빠른 데이터 전송 속도로 주기 시간을 단축하도록 최적화되었습니다. 또한 특허를받은 진공 보유 장치 (Vacuum chucking system) 를 자랑하여 단단하고 신뢰할 수있는 샘플 정렬이 가능합니다. 또한, 프로버에는 수동 또는 자동 웨이퍼 로드 프로세스 옵션이 있습니다. 자동 웨이퍼 로딩 프로세스를 통해 정확성과 반복성이 높아집니다. FITTECH LFP6000 Prober는 정확성을 보장하기 위해 검사 기능을 구축했습니다. 이 제품은 다양한 도량형 시스템과 비전 시스템을 활용하여 웨이퍼 (wafer) 및 다이 무결성 (die integrity) 을 검사하고 검증합니다. 또한, 프로버에는 현장 결함 현미경이 장착되어 있으며, 프로브 전에 의심되는 결함 영역의 자동 이미징이 가능합니다. 전반적으로, FITECH LFP6000 Prober는 다양한 Probing 기능과 검사 기능을 통해 반도체 테스트 및 특성화를위한 신뢰할 수 있고 정확한 솔루션을 제공합니다. 최강의 해상도와 반복성 (repeatability) 요구 사항으로 새롭고 섬세한 재료를 특성화하는 이상적인 도구다.