판매용 중고 EM TEST P18 #9263594

EM TEST P18 Prober는 고밀도 상호 연결이 가능한 플립 칩 패키지의 전기 프로브를 위해 특별히 설계된 통합 장비입니다. 전기적 접점 (Electrical Contact) 과 플립 칩 (Flip-Chip) 패키지의 다이 부착 (Die Attach) 조인트를 모두 테스트할 수 있는 고급 기술과 기능을 갖춘 자동화된 프로버입니다. 시스템은 임베디드 컨트롤러, 정밀 프로브 및 닫힌 루프 (loop) 공압 헤드 어셈블리 장치로 구성됩니다. 이 검사는 테스트 중에 빠른 속도와 높은 정확도를 제공하도록 설계되었으며 자동 비전 머신 (Automatic Vision Machine) 이 장착 된 CCD 카메라가 장착되어 있습니다. 이렇게 하면 공구가 기판 (substrate) 과 다이 (die) 의 정렬을 쉽게 감지하고 프로브가 항상 올바른 위치에 접촉하도록 할 수 있습니다. 이것은 가장 작은 피치에서 조사하는 데 이상적입니다. P18에는 고급 모터 포지셔닝 에셋과 터치 스크린 사용자 인터페이스도 있습니다. 이를 통해 사용자는 다양한 프로세스를 쉽게 선택하고 조작 할 수 있습니다. 이 모델은 또한 컨덕턴스 측정에 안정적인 SVC (Static Voltage Controlled) 기술을 사용합니다. 또한 특허를받은 세라믹 막 진공 척 (ceramic membrane vacuum chuck) 이 포함되어 있는데, 여기에는 기판을 단단히 고정시키고 조사 작업 중에 부유하는 것을 방지하도록 설계되었습니다. 또한 이 기능을 사용하면 테스트 과정에서 프로브 팁이 패키지 서피스와 계속 접촉할 수 있습니다 (영문). 마지막으로, EM TEST P18에는 온보드 데이터 획득 모듈 (on-board data acquisition module) 이 장착되어 있어 테스트 데이터를 실시간으로 캡처하여 추가 분석을 수행할 수 있습니다. 테스트 결과의 정확성과 신뢰성을 보장합니다. 이 장비에는 다이 시어 테스터 (die shear tester), 기판 압정 테스터 (substrate tack tester) 및 열 특성 테스트를위한 열 덕트 (thermal duct) 와 같은 여러 옵션 도구가 포함됩니다. 전반적으로 P18 Prober는 고밀도 상호 연결을 사용하여 테스트 플립 칩 패키지를 이전보다 더 쉽고 정확하게 만듭니다. 첨단 기술과 기능을 통해 정확하고 정확한 테스트 요구를 충족할 수 있는 이상적인 툴입니다 (영문).