판매용 중고 ELECTROGLAS SVTR #9201509

ELECTROGLAS SVTR은 반도체 생산량 향상 및 프로세스 최적화 (process optimization) 에 사용하도록 설계된 컴팩트하고, 다재다능하며, 신뢰할 수있는 전문가용 플랫폼입니다. 이 제품은 정교하고 강력한 툴로서, 장치 칩을 빠르고 정확하게 조사할 수 있습니다. 타이트한 피치 레일, 플랫 팩 모듈, 박막 부품 및 웨이퍼 레벨 포장 (WLP) 을 갖춘 최신 칩의 생산 및 테스트를 위해 설계되었습니다. SVTR은 고정밀도 및 반복성을 위한 견고하고 견고한 설계를 갖추고 있으며, 낮은 오류율 (Error Rate) 및 최소한의 소유 비용 (TCO) 에 대한 신속한 해결 시간을 제공합니다. 이 프로버 (Prober) 는 다이내믹 범위 (Dynamic Range of Probing) 를 향상시키고, 프로버 도구 (Prober Tools) 구성을 교환하여 다양한 어플리케이션에 적합합니다. 초고해상도 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 기능이 내장되어 있어 정확성과 신뢰성이 향상되었으며, 여러 Probing 세션에 대해 반복 가능한 Probing 조건을 보장하는 DIOS 기능이 내장되어 있습니다. 이 Prober는 다양한 Probe Card 구성을 통해 매우 효율적인 생산 용량과 유연성을 제공하여 빠르고, 정확하고, 안정적으로 설계되었습니다. ELECTROGLAS SVTR의 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 및 하드웨어를 사용하면 향상된 데이터 수집 기능을 통해 한 번에 최대 4개의 테스트 사이트를 자동으로 조사할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 웨이퍼 표면의 패턴을 스캔하여 확률의 정확성과 신뢰성을 보장하는 통합 비전 시스템 (Integrated Vision System) 을 가지고 있습니다. 또한, SVTR은 고급 알고리즘을 사용하는 중앙 로봇 시스템 (Central Robot System) 으로 구성되어 최대 1 ° m 공차의 정확도로 결함을 감지하고 감지합니다. 또한 프로파일 기반 스타트업 (start-up) 기능으로 간편한 설정을 통해 Probe 카드 작동을 신속하게 시작하고 완료할 수 있습니다. 또한 고속 프로세스 연결을 사용하여 EDMC를 통해 원활한 데이터 획득 및 분석을 제공합니다. 전반적으로 ELECTROGLAS SVTR은 고급, 효율성, 견고성 강화 (Rugged Prober) 기능으로 정확한 Probing 및 높은 처리량을 제공하여 반도체 생산량 및 프로세스 최적화를 향상시킵니다. 반도체 생산 프로세스의 까다로운 요구 사항을 충족하고 데이터 수집 (Data Collection) 및 분석 (Analysis) 기능을 제공할 수 있도록 빠르고 정확하게 장치를 조사할 수 있도록 설계되었습니다. 첨단 기능 (Advanced Features) 과 견고한 구조 (Struction) 를 통해 다양한 반도체 및 장치 칩 테스트에 이상적인 선택이 가능합니다.