판매용 중고 ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #9116965

ELECTROGLAS/EG Horizon 4080X Prober는 자동 웨이퍼 테스트, 엔지니어링 테스트 및 장치 특성을 수행하도록 설계된 웨이퍼 프로브 및 테스트 기기입니다. 전체/부분 웨이퍼 (wafer) 및 온칩 (on-chip) 장치에서 다양한 장치와 구성 요소를 검사, 조사, 분석할 수 있습니다. EG Horizon 4080X Prober는 고속 병렬 장비로, 높은 처리량 및 대용량 어플리케이션에 적합합니다. 정밀하고 안정적인 매핑 및 프로브 환경을 가능하게하는 10 m의 미세 피치 전기 기계 스택 (pitch electromechanical stack) 을 사용합니다. 이 프로버는 또한 높은 정확성과 균일성을 위해 자동 웨이퍼 매핑 및 프로브 시스템을 갖추고 있습니다. 이 장치는 다른 기기 및 소프트웨어와 상호 작용하여 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 및 테스트 (testing) 를 위한 빠르고 효율적이며 경제적인 솔루션을 제공합니다. Prober는 RF/Microwave, 고전압 및 메모리 테스트와 같은 많은 기능을 제공합니다. OMNIS G2 소프트웨어 패키지를 사용하면 사용자 정의 작업 (custom task) 및 자동 설정 (automated setup) 에 대한 Prober를 구성하고 프로그래밍할 수 있습니다. 또한 강력한 스크립팅 기능도 제공합니다. 이 소프트웨어를 통해 사용자는 사용자 정의 프로그램과 스크립트를 작성하여 신속하게 프로버 (prober) 를 구성하고 빠른 속도와 강력한 스크립팅 (scripting) 기능을 활용할 수 있습니다. 이 프로버에는 LCR 미터, 소스 측정 단위, 디지털 멀티미터, 주파수 응답 분석기, 임의의 파형 생성기 및 오실로스코프를 포함한 다양한 측정 및 테스트 기능이 있습니다. 이러한 측정/테스트 기능은 웨이퍼 검사 (wafer probing) 및 테스트 (testing) 기능과 결합하여 고성능 디바이스의 정확하고 빠른 테스트와 특성화에 필요한 통합 솔루션을 제공합니다. ELECTROGLAS HORIZON 4080 X Prober는 신뢰성을 위해 설계되었으며 깨끗하고 낮은 진동 테스트 환경 및 챔버 보호 기능을 갖추고 있습니다. 또한 비상 전원 끄기 (Emergency Power Off), 자동 시스템 장애 모니터링 (Automated Machine Fault Monitoring), 연동 보호 (Interlock Protection) 등 다양한 안전 기능으로 설계되었습니다. 전반적으로 HORIZON 4080 X Prober는 신뢰할 수 있고 견고한 도구로서, 다양한 어플리케이션에 대해 정확하고, 높은 처리량 조사 및 테스트 기능을 제공합니다. 종합적인 측정 및 테스트 기능, 종합적인 OMNIS G2 소프트웨어 패키지 및 안전 기능을 갖춘 EG HORIZON 4080 X 는 Wafer Probing 및 Testing 을 위한 탁월한 선택입니다.