판매용 중고 ELECTROGLAS / EG Horizon 4080X #293767735

ELECTROGLAS 4080X는 고급 반도체 테스트 및 장치 특성을 위해 설계된 최첨단 전문가입니다. 광범위한 소재/어플리케이션에 빠르고 정확한 결과를 제공할 수 있는 고성능 (HPD) 장비다. 4080X에는 고속 Probing 지원, 유연한 Wafer 자동화, 다중 Chuck 및 Probe 구성, 고급 소프트웨어 등 다양한 기능과 옵션이 제공됩니다. 검사의 핵심은 ROBOLIFT ™ 플랫폼으로, 웨이퍼 프로브 및 기타 작업에 대한 고속, 정밀도, 정확도를 제공합니다. 이 시스템은 질화물 갈륨 (GaN), 갈륨 비소 (GaAs), 실리콘, 구리 등을 포함한 모든 유형의 기질에 대한 최적의 성능 및 테스트 반복 성을 보장하도록 프로그래밍 및 보정되었습니다. 딥 컨택트 프로브 (deep contact probe), 열 프로브 (thermal probe), 싱글 엔드 컨택트 프로브 (single-end contact probe) 등 다양한 프로브로 작동하도록 설계되었습니다. ELECTROGLAS 4080X는 직경이 최대 200mm인 소형 및 풀 사이즈 웨이퍼를 처리하도록 설계되었습니다. 웨이퍼 리프트, 웨이퍼 핸들러, 드라이브 메커니즘 및 기타 부품은 신뢰할 수있는 비전 유닛 (vision unit) 및 피드백 센서 (feedback sensor) 가 지원하는 완벽한 웨이퍼 및 척 로딩 및 이동을 제공합니다. 따라서 모든 작업 중에 웨이퍼 수준의 정확도가 유지됩니다. 고급 사용자의 요구 사항을 충족하기 위해 4080X는 고급 단일화 및 테스트 자동화, 대용량 기판에 대한 고성능 프로브 (High-Force Probing), 대용량 생산용 하이윙 (High-Wing) 처리량, 프로브 후 데이터 획득을위한 고급 소프트웨어 등의 옵션 기능도 지원합니다. 또한, 환경 독립적인 비접촉 웨이퍼 매핑 및 분석 머신은 탁월한 데이터 정확성을 보장합니다. 제조업체와 품질 관리 부서 (Quality Control Department) 의 경우, Prober는 장치 수준 및 웨이퍼 수준 데이터에 대한 상세한 추적, 보고 등 다양한 보고 및 분석 기능도 제공합니다. 즉, 디바이스가 가장 높은 표준에 맞춰 제조되고, 결과의 무결성을 보장하는 데 도움이 됩니다. 전반적으로 ELECTROGLAS 4080X (ELECTROGLAS 4080X) 는 고급 제조업체와 테스트 실험실의 요구를 충족하도록 설계된 고성능 전문가입니다. 이 제품은 다양한 소재와 기판을 빠르고 정확하게 테스트하는 데 필요한 정확도, 속도, 유연성 (Flexibility) 을 제공하여 최고의 품질을 제공합니다.