판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 6000 #9182118
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ID: 9182118
빈티지: 2005
Wafer prober
Nickel hot chuck, 12"
Load port
Bottom Probe Card Changer (BPCC)
ESI OCR
PRI Robot and pre-aligner
Cleaning pad block
Hard Disk Drive (HDD) missing
Cables damaged
2005 vintage.
ELECTROGLAS/EG 6000은 반도체 제조에 대한 고속 IC 테스트의 정밀 측정을 위해 설계된 다목적 전문가입니다. 이 Prober는 매우 정확한 6축 스캐닝 장비를 사용하여 짧은 (short), 중간 (medium) 및 긴 (long) 웨이퍼 크기에 대한 고급 프로브 솔루션을 제공합니다. EG 6000은 0.5 um의 정확도로 구성되며, 반복성은 200-300 um, 총 범위는 최대 2mm입니다. 이것은 기계, 전기 및 디지털 설계 기능의 조합을 통해 달성됩니다. 6 축 스캔 시스템은 3 개의 고정밀 그라운드 볼 나사로 추진되어 정밀 상향, 하향, 왼쪽, 오른쪽, 수직 및 수평 이동이 가능합니다. 이 Prober는 또한 고급 정렬 장치 (Advanced Alignment Unit) 를 특징으로하며 실시간 위치 인코더와 온보드 PC 컨트롤을 결합하여 대상 영역으로 정확하게 탐색 및 정렬합니다. 또한, 이 기계는 통합 테스트 도구, 정확한 참조 마크 미어 (meaurement), 여러 고정장치 유형 구성 옵션 등 다양한 고급 테스트 기능을 제공합니다. ELECTROGLAS EG6000에는 최대 5 미크론의 안정적인 측정을 캡처 할 수있는 고해상도 및 저소음 CCD 카메라가 있습니다. 에셋은 픽셀 레벨 정확도, 이미지 캡처, 이미지 분석 및 패턴 인식 루틴을 '실시간' 으로 활성화합니다. 향상된 운영 및 유지 관리를 위해 EG6000 은 고객 친화적인 환경 제어 소프트웨어로 고안되었습니다. 정교한 공기 회로 설계 (액티브 댐핑 모델) 가 장착되어 있어 일관성 있고 소음이 적습니다. 또한, 이 장비는 다양한 툴링 옵션, 조정 가능한 숫자 매개변수, 강력한 ESD 보호 기능을 제공합니다. 결론적으로, EG EG6000 은 Fab 테스트 애플리케이션에 향상된 기능을 제공하는 고급, 고정밀도 Prober입니다. 고급 기능과 매우 정확한 6축 스캐닝 시스템 (6축 스캐닝 시스템) 을 통합함으로써, 이 장치는 사용자에게 신뢰할 수 있는 정확성과 반복성을 제공하여 효율적인 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 분석을 가능하게 합니다.
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