판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #9267331

ELECTROGLAS/EG 4090u + 는 웨이퍼 레벨 전기 테스트를 위해 설계된 전문가입니다. 이 제품은 정확한 웨이퍼 처리를 위해 4 축 동력 장비와 다양한 테스트 구성 및 테스트 보드 패키지 (test board package) 를 갖춘 다목적 전문가입니다. EG 4090 U + 는 자동 웨이퍼 처리를위한 픽 앤 플레이스 시스템, 정확한 웨이퍼 포지셔닝을위한 4 축 동작 장치, 최대 1 미크론 (micron) 의 위치 정밀도, 사용 편의성을 위한 컴팩트 한 디자인 등 다양한 기능을 제공합니다. ELECTROGLAS EG4090U + 에는 동시 전기 및 광학 측정이 가능한 독특한 기능이 있으며, 비 접촉 다이 검사 (non-contact die inspection) 및 최고 고장 분석 (top failure analysis) 을 포함한 다양한 응용 프로그램에 이상적입니다. 또한 탁월한 정확성과 고속 조사 (High Speed Probing) 기능을 제공하여 몇 초 안에 정확한 데이터를 수집할 수 있습니다. 또한 EG4090U + 는 다양한 테스트 보드 패키지를 지원할 수 있습니다. 이 패키지는 수백만 핀 (multi-million-pin) 랩탑 결함 분석 계산과 같은 애플리케이션에 적합합니다. EG 4090u + 에는 4Flex TPS-CMM 시스템이 장착되어 있습니다. 여기에는 최대 600mm (23.6 인치) 의 이동 범위를 갖는 XYE 스캔 테이블이 포함됩니다. 이는 프로버 (Prober) 에게 추가적인 제어 및 유연성을 제공하는데, 이는 다양한 테스트 목적에 유익합니다. 또한 Z축 모터를 장착하여 보드 레벨 수정, 좌석 및 리프팅/하향을 제어합니다. 픽앤 플레이스 도구는 정확한 테스트 및 선택적 프로브를 보장합니다. 이 자산은 공기적으로 작동하는 브러시 헤드와 다양한 웨이퍼 유형을 특징으로하며 단일 웨이퍼, 다중 다이 (multiple die) 또는 칩 온 플렉스 (chip-on-flex) 모듈을 쉽게 처리 할 수 있습니다. 4090u + 에는 고속 데이터 통신 모델이 있어 외부 컴퓨터 장비로 데이터를 신속하게 전송할 수 있습니다. 4Flex TPS-CMM (고속 자동 로드, 자동 처리, 빠른 Probing 기능 활용) 을 통해 로드/언로드 속도도 향상되었습니다. 빠른 속도가 필요한 웨이퍼 레벨 테스트에 적합합니다. ELECTROGLAS/EG EG4090U + 는 최대의 안전성과 안정성을 고려하여 설계되었습니다. 이 제품은 독자적인 보호 커버와 충돌 방지 (Anti-Collision) 보호 (Proteguard), 전원 장애 방지 (Power Failure) 와 같은 안전 기능을 갖추고 있습니다. ELECTROGLAS/EG 4090 U + 는 Windows 운영 체제에서 작동하도록 설계된 다양한 소프트웨어 솔루션과도 호환됩니다. 본 소프트웨어 솔루션은 Prober 의 기능을 완벽하게 제어할 수 있도록 설계되었습니다. 즉, 사용자가 모든 기능을 활용할 수 있게 해 줍니다.