판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #9252927

ELECTROGLAS/EG 4090u Prober는 반도체 웨이퍼 및 기타 장치의 전기 특성을 측정하도록 설계된 완전 자동화 테스트 스테이션입니다. 이 테스트 장치는 베어 (Bare) 장치와 완전 조립된 (Fully-assembled) 장치를 모두 테스트할 수 있으며, 테스트 설정 및 측정을 빠르고 효율적으로 수행하도록 설계되었습니다. EG 4090u에는 초고해상도 고속 DIS (Digital Imaging System) 가 장착되어 있어 가장 작은 반도체 장치에서도 전기적 특성을 정확하게 감지하고 측정할 수 있습니다. 이 DIS는 다양한 렌즈와 전기 신호를 확대하고 기록하는 고해상도 CCD (Charge-Coupled Device) 를 특징으로합니다. 이 기술은 Prober가 장치의 전기 성능의 미세한 세부 (fine details) 를 측정하는 데 도움이됩니다. ELECTROGLAS 4090 U 는 또한 테스트 바늘과 테스트 중인 장치 간의 접촉 시간을 최소화하도록 설계되었습니다. 따라서 장치에 대한 손상 위험이 마모와 찢어지지 않습니다. 또한 Prober는 고습도 환경에서 더 나은 성능을 위해 Vacuum/Fluidic Compensation을 사용합니다. 이 기술은 장치의 전기 성능 (electrical performance) 이 주변 대기의 영향을 받지 않도록 보장합니다. 4090u (4090u) 는 매우 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 장치로, 다양한 수준의 복잡성으로 테스트 작업을 처리할 수 있습니다. 대규모 및 소형 웨이퍼, 그리고 MEMS, RF, CMOS, 광학 센서 등 다양한 기술을 갖춘 장치에서 테스트, 측정을 수행할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 에는 테스트 템플릿 라이브러리가 내장되어 있으며, 테스트 매개변수 (test parameter) 와 향후 사용 결과를 저장할 수 있는 기능도 내장되어 있습니다. Prober의 자동 테스트 기능 외에도 4090 U 는 사용이 간편한 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 운영자가 테스트 매개변수를 신속하게 구성할 수 있습니다. 여기에는 테스트 프로세스를 보다 효과적으로 제어하기 위해 사용자 지정 테스트 시퀀스 (customized test sequence) 와 측정 격자 (measurement grid) 를 설정할 수 있습니다. 이 프로버 (Prober) 에는 문제 해결을 위한 다양한 진단 도구가 있으며, 추가 분석을 위해 데이터를 내보내고 가져올 수 있는 기능도 있습니다. 전체적으로, EG 4090 U는 가장 작은 반도체 장치조차도 측정 할 수있는 기능을 갖춘 강력하고 안정적인 테스트 장치입니다. 고급 디지털 이미징 시스템 (Digital Imaging System) 과 진공/유체 보상 (Vacuum/Fluidic Compensation) 은 모든 환경에서 정확하고 안정적으로 테스트하는 장치에서 매우 귀중합니다. 테스트 템플릿 라이브러리, 고급 사용자 인터페이스, 데이터 내보내기/가져오기 (export/import) 기능이 내장되어 있으므로 테스트 프로세스가 효율적이고 생산성을 보장할 수 있습니다.