판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293821914

ELECTROGLAS/EG 4090u + prober는 반도체 웨이퍼의 정밀 조사를 위해 설계된 고성능 테스트 및 측정 장치입니다. 이 장치는 웨이퍼 (Wafer) 및 다이 (Die) 수준에서 전기 특성을 안정적이고 반복적으로 측정 할 수 있습니다. 이 프로버는 2 개의 초고효율 프로브 카드로 구동되며 X 및 Y 축에서 최대 100 미크론 해상도를 제공하며 고급 전자기 간섭 (EMI) 필터링을 지원합니다. EG 4090 U + 는 최신 6 인치 및 8 인치 구성을 포함하여 다양한 웨이퍼 척 (wafer chuck) 크기를 지원하므로 많은 웨이퍼를 동시에 테스트할 수 있습니다. 이 Prober는 또한 사용자에게 뛰어난 실시간 Probing 기능을 제공하는 정교한 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 자동화, 수동, 일괄 처리 등 다양한 Probing 모드를 지원하도록 구성할 수 있습니다. 데이터 로깅, 통계적 피드백, 프로그래밍 가능한 경보, ELECTROGLAS EG4090U + 와 같은 고급 기능을 통해 불완전한 테스트 결과를 쉽게 추적하고 문제를 신속하게 파악할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 종합적이고 인체 공학적 인 온보드 작업 공간을 갖추고 있으므로 구성 요소에 쉽게 액세스하고 조정할 수 있습니다. 직관적이고 사용하기 쉬운 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 사용자가 테스트 데이터를 체계적으로 볼 수 있습니다. GUI를 사용하면 사용자 정의 정렬 조정을 통해 보다 정확한 Probe를 수행할 수도 있습니다. EG4090U + 는 고급 안전 기능 및 모니터링 기능을 통해 안전하고 일관된 운영을 보장합니다. 외부 압력 민감성 연동은 전원 공급 (power delivery) 을 비활성화하고 무단 작동을 방지하여 잠재적 위험 (potential hazard) 으로부터 추가적인 보호 계층을 제공합니다. 강력한 그라운드 클립 (ground clip) 시스템은 충격과 잠재적인 쇼트 회로 (short circuit) 를 최소화하여 불필요한 가동 중지 시간과 잠재적 손상을 방지합니다. 전반적으로, EG EG4090U + 는 반도체 웨이퍼 테스트 요구를 위해 안정적이고 효율적인 프로버를 찾는 사람들에게 이상적인 선택입니다. 광범위한 기능과 고급 안전 제어 기능 (Advanced Safety Control) 을 통해 뛰어난 성능과 장기적인 안정성을 제공합니다.