판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293767773

ELECTROGLAS/EG 4090u Prober는 고급 성능과 유연성을 제공하는 모듈식 아키텍처를 갖춘 완전 자동화, 고속, 다기능 프로버입니다. 다양한 구성 요소와 기술의 특징을 정확하게 파악하도록 설계되었습니다. 이 Prober는 단일 웨이퍼 응용 프로그램뿐만 아니라, 다중 웨이퍼 병렬 테스트에서도 사용할 수 있습니다. EG 4090u Prober에는 통합 히터, 정밀 배치 단계 및 초광역 비디오 현미경 장비가 포함됩니다. 저전압/고전류 접촉 어셈블리 및 빠른 접촉 활성화를 허용하는 EFE (Electric Field Ejection) 시스템으로 구동됩니다. 이 장치는 안정적이고 안정적인 연락 성능을 보장하며, 실행당 최대 65 개의 모듈을 테스트할 수 있습니다. Prober의 CCD 카메라는 프레임 당 최대 2,500 만 픽셀 (pixel) 의 스캔으로 최고 이미지 해상도를 가지고 있습니다. 또한, 통합 레이저 정렬기는 ± 0.5 mil의 정렬 정확도를 보장하기 위해 잘못 정렬을 감지하고 수정합니다. Prober는 또한 ± 3 äm의 핀 반복 가능성과 12-die mark-to-mark 공차를 갖는 다이 배치 정확도를 특징으로합니다. ± 12 äm. ELECTROGLAS 4090 U Prober는 수동 프로세스를 자동화하고 인간의 판단과 개입이 필요하지 않습니다. 동일한 테스트의 여러 반복 (iteration) 을 실행하여 컴포넌트 (component) 와 더 높은 처리량을 측정할 수 있습니다. Prober는 또한 성능을 최적화하기 위해 실시간 성능 모니터링 주기를 수행합니다. 또한 Prober는 사용자에게 친숙한 인터페이스에 여러 소프트웨어 프로토콜을 장착하여 사용자가 하나의 PC로 Prober를 프로그래밍, 모니터링, 제어할 수 있도록 합니다. 이러한 프로토콜에는 자동 모션 제어, 제품별 소프트웨어, 완전 통합 테스트 셀 관리 등이 포함됩니다. 이 시스템은 또한 까다로운 테스트 환경 (예: 멀티 사이트 구성) 에서 빠르고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. EG 4090 U Prober는 고급 사용자 친화적, 고성능 툴로서, 다양한 테스트 요구에 대한 정확한 작동, 탁월한 속도, 정확성, 효율적인 운영을 제공합니다. 다용도, 사용 편이성, 혁신적인 기능으로 인해 MEMS, 반도체 등 전자 부품의 테스트, 특성화에 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다.