판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293648287

ELECTROGLAS/EG 4090u는 집적 회로 및 기타 장치의 정밀 테스트 및 조사를 위해 특별히 설계된 고급 웨이퍼 프로버입니다. EG 4090u 는 효율적이고, 반복적으로 작동할 수 있는 통합, 고급 소프트웨어를 탑재했으며, 최대 8 인치 직경의 웨이퍼를 처리할 수 있습니다. ELECTROGLAS 4090 U prober는 2 개의 별도의 XY 운동 단계를 가지고 있으며, 첫 번째는 와퍼를 빠르게 배치하기 위해 다양한 속도로 정확하고, 정확하며, 반복 가능한 플랫폼 수준 이동을 제공합니다. 두 번째 단계는 광학 공구 인터페이스 (optical tooling interface) 를 갖춘 관절 암 (articulated arm) 으로, 프로브 카드를 배치하고 테스트 패턴을 실행하는 데 사용됩니다. ELECTROGLAS 4090u 는 다중 지점 접촉 (Multiple Point Contact), 압력 민감성 (Pressure-sensitive) 및 정전량 감지 프로브 (Capacitive-sensing Probe) 와 같은 표준 동작 및 프로브를 선택하여 웨이퍼를 테스트하고 검사하는 구성 가능한 테스트 환경을 제공합니다. 이 시스템은 여러 속도로 웨이퍼 (wafer) 를 테스트할 수 있으며, 세밀하게 튜닝된 XY 단계를 사용하여 웨이퍼 (wafer) 의 넓은 영역을 스캔할 수 있습니다. 시스템은 특정 접촉의 압력, 전류, 기타 매개변수를 동적으로 조정하여 정확한 결과를 얻을 수도 있습니다. 또한 ELECTROGLAS/EG 4090 U에는 고급 위치 정확도 및 반복 기능, 조정 가능한 Probe-to-Wafer 오프셋 및 접촉력이 포함됩니다. 또한 클리어런스 (clearances) 및 기타 매개변수, 자동 정렬 (automatic alignment) 을 자동으로 조정하여 테스트 및 조사 시간을 최소화할 수 있습니다. 4090u Prober는 또한 다양한 진단 및 분석 도구 (Diagnostic and Analysis Tools) 를 제공하여 테스트 및 조사 작업의 성능에 대한 자세한 데이터를 제공합니다. 또한, EG 4090 U에는 Prober 작업을 지원하는 소프트웨어 및 도구 모음이 있습니다. 여기에는 Probe 문제를 신속하게 진단하고 수정하는 직관적인 UI 가 포함됩니다. 또한 원격 관리 (Remote Management) 및 침입 탐지 (Intrusion Detection) 기능과 전체 테스트 프로세스를 완벽하게 추적할 수 있습니다. 전체적으로 4090 U는 정밀 테스트 및 Probing 응용 프로그램을 위해 특별히 설계된 고급 프로버입니다. 높은 정확성과 반복성을 제공하며, 광범위한 테스트/조사 작업을 지원합니다. ELECTROGLAS/EG 4090u는 산업 제조 응용 프로그램에 이상적인 도구이며, 빠르고 안정적인 조사 및 테스트 작업을 제공합니다.