판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293648112
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ID: 293648112
빈티지: 2000
Prober
Ring carrier: Y-RC2
Z Stage: 0.25 Mils
Scrub pad
Chuck: Gold
PCM:
A1 CPU: Normal
A2 Motion MC prom
A4 Tester interface
A5 Theta Z
A7 Extended flash
A911 MUX / Driver
DAR Board: DAR IV
Temperature controller: 130
TSIC
VM:
Vision board: COGNEX
No camera controller
VM Subsystem:
Camera: Gold
DPS
DCM:
DCM: IV
Mother board speed CPU: 133 MHz
Video board: Marvel
Lamp driver
Digi comm
Ethernet
Communication board III
MH Subsystem:
ARM: Big
OWS: LED
MH Board: A14B
Power supply
Operating system: DOS
2000 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u는 EG에서 제조 한 다목적 전문가입니다. 반도체 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 응용 프로그램을 위해 설계되었으며 집적 회로, 트랜지스터, 메모리 칩 및 기타 전자 부품의 테스트 및 테스트에 사용됩니다. EG 4090u prober는 모든 축에서 1 미크론의 정확도와 최대 200mm/sec의 위치 속도를 제공합니다. 한 번에 최대 10 개의 웨이퍼 레벨 (wafer level) 을 테스트 할 수 있으며, 웨이퍼 확보를위한 진공 척 (vacuum chuck) 과 프로그래밍 가능한 힘 및 기울기 조절기 (tilt regulator) 를 포함하여 다양한 기능과 액세서리를 갖추고 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 정렬 및 테스트 프로세스를 돕기 위해 조명 및 비디오 시스템을 선택할 수 있습니다. ELECTROGLAS 4090 U Prober는 32 비트 프로세서로 구동되며 전용 원격 스테이션에서 실행되는 소프트웨어를 통해 제어됩니다. 이 소프트웨어는 강력하고 유연한 프로그래밍 기능을 제공하는 매크로 스크립팅 (macro scripting) 을 포함한 여러 운영 모드를 지원합니다. 옵션 WinT 툴킷 (WinT Toolkit) 을 포함시켜 현장 테스터 (Field Testers) 및 결함 검토 시스템 (Defect Review System) 과 같은 다른 기기와의 통합도 가능합니다. ELECTROGLAS 4090u (ELECTROGLAS 4090u) 는 최대 편의성을 위해 설계되었으며, 자동화된 교정 및 접촉점 자동 정렬을위한 Autostrobe 시스템을 제공합니다. 통합 된 금속 벨로우를 통해 웨이퍼 (wafer) 간 빠른 이동이 가능하며, 다양한 웨이퍼 크기와 유형에 적응합니다. 안전성 측면에서, EG 4090 U에는 차폐 전자기 인클로저 (shielded electromagnetic enclosure) 가 제공되어 외부 환경으로부터의 간섭으로부터 보호됩니다. 또한 워크샵 바닥을 깨끗하게 유지하기 위해 고효율 여과 시스템을 사용합니다. 전반적으로 4090u 프로버 (Prober) 는 고급 반도체 웨이퍼 테스트 툴로, 광범위한 산업 환경에 적합한 기능과 기능을 제공합니다. 높은 정확성과 유연성으로 인해 반도체 웨이퍼 프로브 응용 프로그램 (Wafer Probing Application) 에 이상적인 선택이되었습니다.
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