판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293609027

ELECTROGLAS/EG 4090u는 EG Inc.에서 개발 한 프로버로, 집적 회로 (IC) 의 테스트 및 신호 무결성에 사용됩니다. 이 프로버는 프로브 정확도 및 신호 무결성 (signal integrity) 이 중요한 IC 장치의 검사 및 전기 테스트에 사용됩니다. EG 4090u 는 저소음/저귀납성 프로브 설정을 제공하여 다른 프로버에 비해 신호 무결성을 높입니다. ELECTROGLAS 4090 U는 빠른 정착 시간, 최대 2ms를 제공하는 고성능 프로버입니다. 이 Prober는 사용이 간편한 소프트웨어/모듈식 하드웨어 설계를 통해 특정 테스트 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. Prober는 넓은 Probe 범위를 가지며, 이를 통해 단일 구성에서 다른 IC를 지원할 수 있습니다. 신뢰할 수있는 컨택터 기술의 배열은 최적의 신호 무결성을 보장하는 반면, 열 제어 시스템은 드리프트를 최소화합니다. 4090 U에는 잘못된 경보를 줄이고 플러시 오류를 최소화하기 위해 통합 병렬 N2 제거 시스템이 있습니다. ELECTROGLAS/EG 4090 U는 IC를 간단하게 조사하는 다양한 기능을 제공합니다. 기본 제공되는 AutoProbe 루틴을 사용하면 IC 데이터 시트 없이 복잡한 IC 테스트 프로그램이 빠르게 구성됩니다. 통합 EasySet 및 Smooth Motion 기술은 빠르고 정확한 운영 포지셔닝을 제공합니다. 독립형 전자 온도 제어는 최대 ± 0.1 ° C의 온도 안정성으로 정확하고 안정성을 제공합니다. 내장형 J-Top Probe (J-Top Probe) 를 사용하면 업무 중단을 최소화하면서 어려운 연결과 테스트 포인트를 해결할 수 있습니다. 4090u 는 높은 처리량, 신뢰성, 정확성을 위해 반도체 및 기타 제휴 산업의 요구 사항을 충족합니다. 견고한 기계식 설계, 강력한 구조적 무결성 (structural integrity) 및 탁월한 전기 설계로 제작되어 매우 민감한 IC 테스트에 적합합니다. EG 4090 U (UG 4090 U) 는 엔지니어에게 신뢰할 수있는 단위로 입증되었으며, 나노 미터만큼 적은 고속, 미세 피치 및 혼합 신호 IC에서 테스트 결과를 개선 할 수 있습니다. 전반적으로 ELECTROGLAS 4090u prober는 집적 회로를 테스트, 조사 및 분석하기위한 효율적인 도구입니다. ELECTROGLAS/EG 4090u 기능과 기술은 가장 도전적인 IC를 빠르고 정확하게 테스트하고 분석하는 데 이상적인 도구입니다.