판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606683

ELECTROGLAS/EG 4090u는 트랜지스터, 다이오드, 집적 회로와 같은 광범위한 반도체 장치의 테스트 및 분석 요구 사항을 충족하도록 설계된 모듈 식 반도체 프로버입니다. 이 프로버 (Prober) 는 시장에서 가장 정교한 프로버 중 하나가되도록 설계된 다양한 기능을 자랑합니다. 프로버는 고급 공기 베어링 플랫폼을 사용하여 웨이퍼를 가로 질러 부드럽고 정확한 움직임을 보장합니다. 이 동작은 개방형 아키텍처 (open architecture) 를 통해 사용자가 Prober를 최대한 활용할 수 있도록 사용자 정의가 가능한 설계를 통해 활성화됩니다. EG 4090u에는 총 전문화를 위한 다양한 구성이 포함되어 있습니다. 현미경 마운트는 복잡한 공정을 연구하기 위해 높은 배율 시각적 검사, 표면 및 지하 영상 (subsurface imaging) 을 허용합니다. 장비의 필수 감지 구성 요소는 정전 형 트랜스듀서 및 레이저 간섭계입니다. 둘 다 고정밀 표면 데이터 포인트를 수집하며, 각 채널은 최대 4 개의 정전 형 트랜스듀서와 2 개의 레이저 간섭계를 운반합니다. Prober 의 고급 데이터 로깅 시스템 (Advanced Data Logging System) 은 모든 정보를 템플릿 생성 및 비교에 사용할 수 있도록 하며, 이를 통해 사용자가 가장 정확한 테스트/분석 결과를 얻을 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 직관적인 사용자 인터페이스와 함께 제공되며, 사용자가 쉽게 매개변수를 입력하고, 분석된 데이터를 검색하고, 최소한의 노력으로 테스트 알고리즘을 조정할 수 있습니다. 따라서 처리 속도를 극대화하기 위해 빠르고 효율적인 작업을 수행할 수 있습니다. 또한이 장치의 고급 Probing and Analysis Algorithms (PAA) 는 테스트 및 분석 결과의 정확성과 정확성을 향상시키는 데 도움이됩니다. 이러한 알고리즘에는 DAF (Data Acquisition Feedback), SUS (Simulation of Unkainable Structure) 및 APA (Automatic Probing and Analysis) 가 포함됩니다. 일렉트로 글라스 4090 U (ELECTROGLAS 4090 U) 는 다양한 자동화 및 터치리스 웨이퍼 처리 시스템 (touchless wafer-handling system) 을 사용하여 생산라인과 완벽하게 통합되어 지속적으로 웨이퍼 배치를 생산하고 분석할 수 있습니다. 이 Prober는 또한 안전한 Fab 환경을 갖추고 있으며, 네트워크 내에서 정보를 보호합니다. 이 기계는 또한 운영자 액세스 도구 (operator access tool) 에서 자산 전체 안전 회로 (asset-wide safety circuitries) 에 이르기까지 강력한 안전 기능을 갖추고 있습니다. 전체적으로, EG 4090 U는 사용자 정의 기능이 뛰어난 다기능 반도체 프로버로, 사용자의 안전을 보장하면서 다양한 요구 사항을 충족시킬 수 있습니다. 프로버 (Prober) 의 특징은 반도체 장치의 정확하고 안정적인 테스트 및 분석에 이상적입니다.