판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606503

ELECTROGLAS/EG 4090u는 독립형 및 자동 프로빙 기능을 모두 갖춘 전문적인 높은 정확도 전문가입니다. 이 제품은 집적 회로, 이산 (discrete) 및 베어 보드 (bare board) 와 같은 다양한 장치 유형의 고해상도 프로파일링을 제공합니다. 이 Prober는 뛰어난 반복성을 제공하여 높은 정확도와 높은 처리량으로 변환합니다. EG 4090u prober는 저진동 고속 평면 스캔 동작을 특징으로합니다. 기판 및 장치 기능을 효율적이고, 정확하며, 반복적으로 측정할 수 있으며, 일관되게 높은 정확도와, 집적 회로 개발 및 분석에 이상적인 정밀도를 제공합니다. ELECTROGLAS 4090 U는 미세 피치 IC에서 최대 12 인치 장치 (최소 1 밀리미터 추적, 패드 및 공간 크기) 까지 여러 장치 크기를 조사 할 수 있으며 최소 간격 주파수 기술을 사용하여 최대 0.5 밀리미터 간격을 조사 할 수도 있습니다. ELECTROGLAS 4090u 프로버의 가볍고 단단한 구조는 10 미크론 이상의 반복 성을 갖는, 높은 정밀 웨이퍼 프로브를 가능하게한다. ELECTROGLAS/EG 4090 U 프로버는 많은 고급 기능을 가지고 있습니다. 범용 프로 버 운송 장비와 호환 된 프로 버 설비가 있습니다. C 축 회전을 지원하며 완전한 360도 반도체 장치 범위를 제공합니다. 또한 C-Axis는 볼 그리드 어레이 및 패키지 (package-on-package) 장치 유형과 같은 짧은 추적 측정을 위해 "대각선" 프로브를 제공합니다. 수동 모드와 자동 모드에 모두 사용되는 아민 내성 스테인레스 스틸 오버레이 (stainless overlay) 테이블은 정밀도를 보장하기 위해 측정할 때 바이어스 제어를 보장합니다. 이 시스템은 표준 반도체 테스트에서 안테나 분석에 이르기까지 다양한 자동 테스트를 지원합니다. 4090 U Prober는 장애 분석, 운영 모니터링, 운영 테스트 등 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 또한 네트워크 분석기, 벡터 네트워크 분석기, 임피던스 미터, 커브 추적기 등 다양한 테스트 시스템을 지원합니다. 전체적으로, 4090u는 다양한 기판 및 장치 유형에서 높은 정확도의 웨이퍼 프로파일링을 가능하게하는 고성능 프로버입니다. 저진동 평면 스캐닝 동작은 높은 반복성과 저소음 성능을 보장합니다. Prober의 고급 기능에는 고유 한 범용 Prober 운송 기계, C-Axis 회전 및 최적의 정밀도를 위해 아민 내성 스테인리스 스틸 오버레이 테이블이 포함됩니다. 탁월한 정확성, 반복 가능성, 기능을 갖춘 EG 4090 U Prober는 다양한 어플리케이션에 사용될 수 있습니다.