판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u+ #293606500

ELECTROGLAS/EG 4090u + prober는 생산 및 연구 설정에서 웨이퍼 정렬 작업을 단순화하도록 설계된 고성능, 자동 웨이퍼 검증 및 검사 장치입니다. 이 다용도 시스템 (versatile machine) 은 데이터 수집의 정확성과 속도를 향상시키도록 설계된 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 장비는 메인 캐비닛, 조작기 암 (manipulator arm), 샘플 캐리어 (sample carrier) 및 다양한 프로브 및 기타 구성 요소로 구성됩니다. 시스템의 중심에는 주 캐비닛 (main cabinet) 이 있는데, 이 캐비닛에는 장치를 운영하는 데 필요한 모든 주요 구성 요소가 있습니다. 캐비닛 위쪽에는 컴퓨터 인터페이스 (computer interface) 가 있어 호스트 PC 와 통신하여 시스템 매개변수를 제어할 수 있습니다. 캐비닛에는 조작 장치 암 (manipulator arm) 도 있습니다. 조작 암은 샘플 평면을 가로 질러 샘플 캐리어를 정확하게 이동하도록 설계되었습니다. 견본 캐리어는 다양한 크기의 웨이퍼 (wafer) 와 다양한 프로브 (probe) 및 기타 구성 요소를 수용할 수있는 조절 가능한 플랫폼입니다. 캐비닛 아래쪽에는 샘플 스캔, 프로브 (Probing) 및 기타 작업에 필요한 컴포넌트가 있습니다. 여기에는 웨이퍼 (wafer) 에서 다양한 유형의 신호를 수집하도록 설정 될 수있는 전기 기계 프로브 (electromechanical probe) 와 전기 광학 프로브 (electro-optical probe) 및 웨이퍼 검사에 필요한 현미경과 같은 다양한 보조 구성 요소가 포함됩니다. 캐비닛에는 고해상도 컬러 모니터 (Color Monitor) 가 장착되어 있어 웨이퍼와 데이터를 면밀히 검사할 수 있습니다. EG 4090 U + Prober는 빠른 스캐닝 속도, 높은 정확도, 터치 레이저 작동으로 웨이퍼를 신속하게 테스트할 수 있도록 설계되었습니다. 넓은 시야와 정확한 샘플 포지셔닝 (Sample Positioning) 을 통해 모든 테스트 포인트를 정확하게 측정할 수 있습니다. 프로브는 샘플 평면 위의 다양한 높이에서 설정 할 수 있으며, 커패시턴스 (capacitance) 와 저항 (resistance) 과 같은 광범위한 신호를 감지 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 사용자 정의 자동화 기능 (user-defined automation function) 을 제공하며, 고객의 특정 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. ELECTROGLAS EG4090U + Prober는 높은 안정성과 성능을 위해 효율적이고 정확하게 웨이퍼를 테스트하는 데 유용한 도구입니다. 빠른 스캐닝 속도 (Scanning Speed) 와 정확한 측정 기능으로 인해 생산 및 연구 실험실에 이상적인 선택이 됩니다.