판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293606395

Electro GlasELECTROGLAS/EG 4090u 프로버는 반도체 웨이퍼 조사 및 테스트를 위한 업계 최고의 자동화 솔루션입니다. 고정밀도 프로세스 제어 및 데이터 분석을 위해 설계되었으며, Wafer Testing 절차를 유연하고 경제적으로 자동화합니다. 최첨단 로봇 스테이징 장비, 세련된 웨이퍼 처리 및 테스트 프로토콜, 고급 자동 정렬 알고리즘 및 통합 데이터 획득 시스템을 갖춘 EG 4090u Prober는 전례없는 정확성과 성능을 제공합니다. ELECTROGLAS 4090 U Prober는 진정한 완전한 5 축 동작 제어 시스템을 사용하여 스테이지와 척의 다중 축 이동을 허용합니다. 이를 통해 샘플 및 연락처 팁의 정확하고 자동화된 정렬과 정확한 스캐닝, 스크러빙 (scrubbing) 및 프로브 작업을 수행할 수 있습니다. 이 장치는 또한 정확한 웨이퍼 처리 및 포지셔닝을위한 통합, 1도 자유 센터 안내 메커니즘을 제공합니다. 이 Prober는 또한 고급, 내장 데이터 획득 시스템 및 통합 데이터 디스플레이 (옵션), 데이터 로거, 소프트웨어 관리 및 통신 기능을 갖추고 있습니다. 데이터 수집 도구 (Data Acquisition Tool) 는 가장 까다로운 처리량 요건을 충족할 수 있는 빠른 샘플 클럭을 갖추고 있습니다. 독점 GView 소프트웨어를 사용하면 부품 형상을 정확하게 재구성하고, 테스트 중 경로를 추적하고, 테스트 성능을 확인할 수 있습니다. 4090u Prober와 통합된 강력한 자동 SCARKerchie Optimal Probing Asset으로, 최적의 모델 기반의 웨이퍼 및 장치에 대한 전기 테스트 기능을 제공합니다. 고급 동작 제어 모델 (advanced motion control model) 과 축 프로브 (axial probing) 를 결합하여 어려운 환경과 복잡한 샘플 형상에서도 안정적이고 정확한 테스트를 할 수 있습니다. 4090 U에는 구성 가능한 웨이퍼 처리 플레이트가 있으며 2D 및 3D 응용 프로그램 모두에 유연한 교정 및 자동 스캔 기능을 제공합니다. 또한 최적의 결과를 얻기 위해 사용되는 고정밀 빔 스플리터 X-Y 정렬 카메라로, 안정적이고 성능이 좋은 수동 정렬이 가능합니다. 비용 효율적이고 강력하며 효율성이 높은 ELECTROGLAS/EG 4090 U 프로버를 통해 반도체 테스트는 쉽게 자동화되고 안정적입니다. 디지털 이미지 분석, 통계 분석 알고리즘, 강력한 데이터 분석 툴은 탁월한 정확성과 프로세스 제어를 제공합니다.