판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293603735

ELECTROGLAS/EG 4090u Prober는 모든 유형의 반도체 장치에 대해 매우 정확한 측정을 제공하는 3 세대 웨이퍼 현미경입니다. 이 Prober에는 고급 터치스크린 사용자 인터페이스 (Touchscreen User-Interface), 유연한 고위치 정확도 (High Positional Accuracy), 다양한 고급형 (High-End) 기능과 같은 기능이 포함되어 있어 장치를 효율적으로 조사할 수 있습니다. EG 4090u는 Z 드라이브 스테이지와 6 축 로봇 암이있는 15 미크론 XY 테이블을 사용하여 매우 정확한 샘플 이동 및 정렬을 허용합니다. ELECTROGLAS 4090 U Prober는 인상적인 측정 기능을 자랑합니다. 장치는 die area, contact size, soldering and welding, resistance, temper 등 광범위한 매개 변수를 측정 할 수 있습니다. 이러한 측정은 와퍼 (wafer) 와 플립 칩 (flip chip) 에서 모두 측정 할 수 있으며, 납 프레임, gullys 및 기타 회로 구성 요소가 평가에 영향을 미칩니다. 이 Prober는 또한 소재와 치수 불일치를 신속하게 감지 할 수있는 이미지 기반 결함 검사 및 분석을 제공합니다. 강력한 디지털 이미지 처리 및 분석 알고리즘을 통해, 매우 정확한 3D 측정이 가능합니다. 현미경에는 결함 검사 및 측정 기능을위한 통합 비전 시스템도 있습니다. 이 장치는 다양한 기술 (예: SIP (System-in-Package), 리드 프레임 및 다이 뱅크) 에서 실행할 수 있습니다. 이 프로버 (Prober) 에는 가벼운 공기 운동 플랫폼이 있어 운영 및 생산 환경에 적합합니다. 또한 4090u 는 광범위한 통신 프로토콜을 제공하여 다양한 네트워킹 및 데이터 처리 (data processing) 기능을 제공합니다. 이 Prober는 안전 규정도 준수하며, 고급 안전 기능도 갖추고 있습니다. 일렉트로 글라스 4090u 프로버 (ELECTROGLAS 4090u Prober) 는 반도체 장치의 정확하고 안정적인 측정을 빠르게 얻으려는 사용자에게 완벽한 도구입니다. 직관적인 터치 스크린 사용자 인터페이스, 광범위한 측정 기능, 공기 동작 플랫폼 (air motion platform), 결함 검사 및 측정을위한 통합 비전 시스템 (integrated vision system) 과 같은 고급 기능을 갖춘 이 Prober는 다양한 반도체 장치를 측정하기위한 효율적이고 효과적인 솔루션을 제공합니다.