판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293603734

ELECTROGLAS/EG 4090u 프로버는 주로 고장 분석, 장치 평가 및 신뢰성 테스트에 사용되는 고정밀 자동 웨이퍼 프로버입니다. 엔지니어는 TCO (총소유비용) 를 낮추면서도 빠르고 정확하게 테스트 다이에 액세스하고 검사할 수 있습니다. 이 프로버 (Prober) 는 직관적이고 유연한 소프트웨어로, 사용자가 고급 매개변수 (parameter) 와 설정 (settings) 을 사용하여 장비를 구성하여 최고 수준의 퍼스트 패스 (first-pass) 수율을 달성할 수 있도록 합니다. 고성능 SAM (Scanning Acoustic Microscopy) 시스템은 실시간으로 지하 결함을 감지하고 식별 할 수 있습니다. 시각 분석 장치는 5 개의 SEM 이미지를 포함하여 최대 32 개의 총 이미지를 동시에 표시 할 수 있습니다. 이 프로버에는 ATM (Ambient Temperature Model) 이 포함되어 있으므로 다양한 환경 조건에서 작동 할 수 있습니다. 통합 된 정밀 핫 척 (hot chuck) 은 다양한 온도에서 관측하기 위해 소형 장치를 고정하고 가열 할 수 있습니다. EG 4090u 는 고급 반도체 애플리케이션에 적합한 다양한 고급 기능을 제공합니다. 조사 시간은 경쟁 시스템보다 최대 4 배나 빠르며, 따라서 처리량이 많은 작업에 적합합니다. 또한 확장 가능한 척 (chuck) 플랫폼을 사용하면 웨이퍼를 빠르게 로드하고 배치하여 주기 시간을 줄이고 처리량을 높일 수 있습니다. T 슬롯 브리지 머신을 사용하면 빠르고 매끄럽고 정확한 팔 동작이 가능합니다. ELECTROGLAS 4090 U (ELECTROGLAS 4090 U) 는 저접촉력 조사 (low-contact-force probing) 기능을 통해 샘플을 조사 할 때 사용되는 힘의 양을 줄여 보다 안정적이고 정확한 측정을 제공합니다. 이 검사는 또한 무연, 저내구성, 고도 테스트 등 다양한 측정 방법을 지원합니다. 이 Prober는 또한 안전 연동 스위치, E-Stop 버튼, 스플래시 보호 (Splash Protection), 라이트 커튼 도구 등 사용자를 보호하기 위해 설계된 다양한 안전 기능을 갖추고 있습니다. 또한 ELECTROGLAS 4090u 는 다양한 자동 테스트 장비와 호환되며, 심층적인 진단을 통해 최대의 자산 가동 시간을 보장합니다. 4090 U는 웨이퍼 프로빙 시스템의 최대 정확도, 속도, 신뢰성이 필요한 반도체 기업에게 이상적인 증거입니다.