판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293593048
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ID: 293593048
빈티지: 2016
Prober
Chuck type: Nickel, 8”
Temperature: 35°C-130°C
Scrub pad: Standard
OCR: EG OCR Camera
2016 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u는 독립형 또는 자동 테스트에 사용할 수있는 파라 메트릭 테스트 프로버입니다. 이 제품은 수동, 단계적, 자동화된 테스트 기능을 지원하는 독보적인 설계를 제공합니다. EG 4090u 는 대용량 전기 매개변수 테스트 기능과 다이 셀렉터 (die selector) 를 완전한 패키지로 결합한 완전 통합 다이 정렬 테스트 솔루션입니다. ELECTROGLAS 4090 U의 주요 구성 요소는 자동 웨이퍼 레벨 프로버입니다. 최대 웨이퍼 직경이 200mm, 직경이 100mm 인 플랫폼을 제공합니다. 다양한 실리콘 또는 박막 기판을 안정적으로 선택하고 배치하도록 설계되었습니다. 프로버는 시력 지원 정렬 및 3 차원 프로브 옵션으로 구성 할 수 있습니다. 또한 허위 거부와 상당한 수익률 이익을 최소화하도록 설계되었습니다. EG 4090 U는 자동 다이 셀렉터를 사용하여 TFT (Thin-film Transistor) 및 CMOS (Complementary Metal-oxide Semiconductor) 장치를 테스트하여 장치의 전자 인터페이스를 조작하도록 설계되었습니다. 프로브는 또한 전력 반도체 장치뿐만 아니라 Flash, SRAM (Static RAM) 및 DRAM (Dynamic Random Access Memory) 과 같은 메모리 장치를 테스트하는 데 사용할 수 있습니다. 자동화된 테스트 기능과 온보드 (on-board) 컴퓨터 제어 데이터 획득 및 분석 기능을 통해 정확한 테스트를 보장합니다. ELECTROGLAS/EG 4090 U에는 측정 기술 및 인터페이스 제품군도 있습니다. 또한 강력한 소프트웨어 툴을 통해 장치 (device) 와 회로 (circuit) 특성화 및 데이터 분석을 지원합니다. 이 도구는 패라메트릭 테스트 및 장치 특성화에 유용한 정보를 제공합니다. 4090 U 는 다양한 테스트 애플리케이션에 대한 패라메트릭 (parametric) 테스트 적용 범위를 제공하며, 수동 (manual) 및 자동 (automated) 테스트 모두에 사용할 수 있습니다. 총 테스트 시간 (Total Test Time) 과 더불어 높은 수율과 향상된 규칙성을 제공하는 효과적인 Prober 솔루션입니다.
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