판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293592712

ELECTROGLAS/EG 4090u는 전자 기기를 조사하는 데 사용되는 고정밀 전문가입니다. 일반적으로 연구, 개발 및 테스트 목적으로 집적 회로 (integrated circuit) 부품의 전기 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 이 프로버는 스캐닝 터널링 현미경 (STM), 원자력 현미경 (AFM) 및 정전기 힘 현미경 (EFM) 의 조합을 사용하여 전기 특성화, 매핑, 스트리밍 곡선 분석 및 웨이퍼, 칩 및 회로 구성 요소. EG 4090u는 200mm x 160mm의 공간으로 가볍고 컴팩트한 디자인을 갖추고 있습니다. 진공 환경에서 작동하며 지그 (Jigs), 전기 테스트 카드, 수동 프로브 (Manual Probe) 및 전기 리드 (Electrical Lead) 와 같은 다양한 프로브 팁으로 작동하도록 설계되었습니다. ELECTROGLAS 4090 U는 최대 4GHz의 측정을 수행하면서 전기 전위 및 전류를 감지, 측정, 제어 할 수 있습니다. 자동화된 샘플 스테이징과 결합된 자동 웨이퍼 (automated wafer) 및 칩 탐지 (chip detection) 기능은 향상된 Probing 정확성과 반복성을 제공합니다. 4090 U 는 또한 프로브 팁 (tip) 과 전극 (electrrod) 의 데이터 시각화 및 기록과 파형을 동시에 모니터링할 수 있는 소프트웨어를 내장하고 있습니다. 또한 EG 4090 U에는 이후 분석을 위해 파형을 저장할 수있는 기능이 있습니다. 또한 Probe 도중 이동하는 장치를 감지하고 추적할 수 있습니다. 일렉트로 글라스 4090u (ELECTROGLAS 4090u) 에는 손상 방지, 위험 물질로부터 환경 보호를위한 안전 기능이 장착되어 있습니다. 섭씨 10도에서 35도 사이의 온도에서 작동하므로 환경 위험을 최소화합니다. ELECTROGLAS/EG 4090 U는 소음 수준이 낮기 때문에 0.2 나노 미터 범위에서 뛰어난 정확도를 제공합니다. 전반적으로 4090u는 웨이퍼, 칩, 회로 부품 등에서 반복 가능하고, 정밀도가 높은 측정을 수행할 수 있는 매우 정확하고, 효율적이며, 신뢰할 수 있는 전문가입니다. 컴팩트한 디자인과 사용이 간편한 소프트웨어로 고급 웨이퍼 레벨 테스트 (Wafer Level Testing) 및 측정을 위한 탁월한 선택입니다.