판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090u #293589315
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ID: 293589315
빈티지: 1999
Prober
Commander version: DOS EGC 7.3.8
DCM Version: DCM 2
VM Alignment system
DPS Camera
Z-Stage: 0.125
Chuck material: Nickel
Chuck type: Hot
DPS Camera
Scrub pad
LCD Monitor
Material handler module
Display control module
Prober control module
Vision module
OCR Camera
1999 vintage.
ELECTROGLAS/EG 4090u는 최고의 반도체 테스트 회사 인 테라 딘 (Teradyne) 의 부서 인 EG 회사에서 설계 및 제조 한 고정밀 초고성능 프로빙 시스템입니다. EG 4090u 는 IC 개발 및 프로덕션 테스트 팀의 Probe 요구 사항을 충족하도록 설계된, 테스트 에뮬레이션 및 Probe 기능을 내장한, 완전 자동화된 초고속 전문가입니다. 일렉트로 글라스 4090 U (ELECTROGLAS 4090 U) 는 테스트 할 IC 또는 기타 반도체 장치를 자동으로 정렬하도록 설계되었으며, 0.05 미크론의 정밀도로 신호를 감지, 분석 및 조정 할 수 있습니다. 이 프로버는 레이저, 적외선 및 접촉 프로브와 같은 다양한 프로빙 방법을 지원합니다. ELECTROGLAS/EG 4090 U에는 주 섀시에 안전하게 통합되어 쉽게 액세스 할 수있는 여러 역학 구성 요소 및 하드웨어 (DUT 변환 슬라이드, 프로브 헤드, 터렛 터거, XYZ 조작기 등) 가 포함됩니다. 4000u는 다기능 포탑으로 다양한 프로브 (Probing) 구성을 구성하고 전환할 수 있으며, DUT의 요구 사항에 따라 자동으로 Probe 카드를 조정하여 결과의 정확성과 일관성을 향상시키는 프로빙 (Probing) 팁 액티브 밸런싱 시스템을 갖추고 있습니다. 또한, 4090u는 고속 프로브, 칩 특성화의 정확성, 고급 활성 PCB 프로브 헤드를 사용하여 I/O 핀아웃을 더 잘 테스트합니다. ELECTROGLAS 4090u는 반도체 제조업체에 혜택을주기 위해 다양한 기능을 자랑합니다. 매우 높은 정확성과 반복 성을 위해 설계되었으며, 1000 개가 넘는 사이트의 4090 U 스캔 범위는 wafer to wafer 또는 wafer to package testing to ultra-speed로 생산 기능을 향상시킵니다. 유연한 설계를 통해 단일 사이트 수동 작업부터 외부 키패드 (Keypad) 및 트리거 (Trigger) 를 사용하여 여러 사이트의 자동 작동까지 손쉽게 확장할 수 있습니다. 시각적 지표가 있는 안전 경보 (Safety Alarm) 가 내장되어 있어 생산 현장에서 생산적이고 안전한 환경을 확보할 수 있습니다. EG 4090 U 는 사용자가 사용자 인터페이스, 데이터 분석, 보고 기능 등 자동화된 테스트를 사용자 정의할 수 있는 강력한 소프트웨어 애플리케이션 제품군을 제공합니다. 따라서 설정을 손쉽게 조정하고, Probing 레시피를 저장하고, 검색하고, 시스템 상태를 모니터링하고, 결함을 진단하고, 복잡한 맞춤형 보고서를 생성할 수 있습니다. 또한 Prober의 소프트웨어는 대화형 (Interactive) Probing 팁 및 Probe 카드 라이브러리를 지원하므로 사용자가 원하는 구성에 새 장치와 구성 요소를 빠르고 쉽게 추가할 수 있습니다. ELECTROGLAS/EG 4090u는 신뢰할 수 있고 강력한 전문가로서 반도체 제조업체에 수많은 이점을 제공합니다. 테스트 시 초고속, 정확성, 반복성 등을 제공하도록 설계되었으며, 테스트 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계, 조정이 가능합니다. 효과적인 소프트웨어 제품군은 수동 (manual) 또는 자동 (automated) 절차에 대한 심층적인 사용자 정의를 지원하므로 설정을 손쉽게 조정하고 레시피를 저장할 수 있습니다. EG 4090u는 IC 개발 또는 생산 테스트에 필수적인 도구입니다.
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