판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090 #293808950

ELECTROGLAS/EG 4090 Prober는 IC (Integrated Circuit) 패키지를 조사하고 테스트하기 위해 반도체 산업에서 사용되는 테스트 도구입니다. 디바이스는 Wafer 성능을 진단하고 특성화하고 알려진 문제를 해결하는 데 사용됩니다. 동적 작동 시 최대 500 핀, 정적 작동 시 최대 1000 핀을 측정 할 수 있습니다. 이 장치에는 정밀도 (precision), 속도 (speed), 신뢰성 있는 전기 및 열 성능 등의 탁월한 성능 기능이 장착되어 있습니다. 장치의 필수 요소에는 Probe Head, Displacement Amplifier, Probe Care Equipment (PCS), Test Cell 및 I/O 시스템이 포함됩니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 는 각 헤드 어셈블리에서 최대 200개의 핀으로 가장 높은 정확도와 안정성을 제공하도록 설계되었습니다. 변위 증폭기 (Displacement Amplifier) 를 사용하면 팁을 정확하게 조정하여 가장 좋은 접촉과 측정을 보장할 수 있습니다. PCS (Probe Care Unit) 는 자동 기계 교정 및 프로브 청소를위한 유지 보수 장치로 구성됩니다. 테스트 셀 (Test Cell) 에는 정확한 위치 변경 기능과 최적의 신호 경로와 정확성을 보장하는 캔틸레버 (Cantilever) 도구가 있습니다. 마지막으로 I/O Asset은 이더넷, GPIB, DisplyPort 및 USB 연결을 조합하여 시스템 데이터 및 명령에 대한 전체 액세스를 제공합니다. 성능 측면에서 EG 4090은 신호 무결성, 열 분석, 진단 분야에서 탁월한 성능을 제공합니다. 이 장치에는 최대 1000 핀 (핀) 까지 측정하고 시간 도메인 분석을 수행 할 수있는 잔류 소음 바닥이 낮습니다. 또한 뛰어난 속도를 제공하며, 여러 Probe를 병렬로 프로그래밍하는 기능을 통해 반복 가능한 테스트를 신속하게 제공합니다. 더욱이, 이 장치는 신뢰할 수 있고 견고하며, 특허를 받은 기술로 인해 탁월한 수명 및 신뢰성을 제공합니다. 전반적으로 ELECTROGLAS EG4090 Prober는 반도체 관련 문제를 테스트, 진단, 해결하기 위한 고급적이고 정교한 도구로서, 정확성, 속도, 신뢰성을 제공합니다. 테스트 셀, Probe Head, I/O 모델 등 다양한 기능을 갖춘 이 장치는 통합 회로 (Integrated Circuit) 및 보드 레이아웃에 대한 문제 해결 및 디버깅을 위한 완벽한 선택입니다.